[發(fā)明專利]一種LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)及其方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410572662.6 | 申請(qǐng)日： | 2014-10-23 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN104344944A | 公開(kāi)（公告）日： | 2015-02-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 蔡曉愷 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 上海維銳智能科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01M11/02 | 分類號(hào)： | G01M11/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務(wù)所 31219 | 代理人： | 高園園 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 led 數(shù)碼管 光電 檢測(cè) 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
1.一種LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：包括光學(xué)探測(cè)模塊、暗箱、可切換工裝板、工裝板驅(qū)動(dòng)模塊、LED切換驅(qū)動(dòng)模塊、主控模塊、圖像處理模塊和電性能測(cè)試模塊；
所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)設(shè)置在所述暗箱內(nèi)，包括相機(jī)、光學(xué)鏡頭和光源，用于獲取點(diǎn)亮后的被測(cè)LED數(shù)碼管的圖像信息；
所述暗箱設(shè)置在所述可切換工裝板上，用于為所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)提供工作環(huán)境；
所述可切換工裝板置于所述暗箱的下方和所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊的上方，用于可切換地放置被測(cè)LED數(shù)碼管；
所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊與所述主控模塊相連，用于在所述主控模塊的控制下驅(qū)動(dòng)所述可切換工裝板進(jìn)行位置切換；
所述LED切換驅(qū)動(dòng)模塊與所述主控模塊相連，用于在所述主控模塊的控制下驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮所述暗箱正對(duì)的工作位上的被測(cè)LED數(shù)碼管；
所述圖像處理模塊與所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)和所述主控模塊相連，用于對(duì)所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)所獲取的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處理，獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息；
所述電性能測(cè)試模塊與所述主控模塊相連，用于獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的電學(xué)性能信息；
所述主控模塊用于根據(jù)所述圖像處理模塊和所述電性能測(cè)試模塊的測(cè)試結(jié)果，判斷被測(cè)LED數(shù)碼管是否為良品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述相機(jī)采用CCD相機(jī)或CMOS相機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述可切換工裝板為長(zhǎng)條形，左右兩側(cè)分別設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位上用于放置若干個(gè)被測(cè)LED數(shù)碼管，且兩側(cè)的工作位能夠?qū)崿F(xiàn)左右切換。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述可切換工裝板為轉(zhuǎn)盤(pán)式，在轉(zhuǎn)盤(pán)上每隔一定角度設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位用于放置若干個(gè)被測(cè)LED數(shù)碼管，通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)盤(pán)能夠?qū)崿F(xiàn)工作位的切換。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊采用電機(jī)驅(qū)動(dòng)，或者采用氣缸驅(qū)動(dòng)，或者直接通過(guò)人工進(jìn)行推動(dòng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述光學(xué)性能信息包括被測(cè)LED數(shù)碼管發(fā)光的亮度均勻性、色度均勻性、亮度分檔、色度分檔、是否漏光、是否有雜質(zhì)以及是外殼否有劃痕。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述電學(xué)性能信息包括被測(cè)LED數(shù)碼管的正向電壓值、反向漏電值、開(kāi)路信息、短路信息。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：還包括顯示模塊，與所述主控模塊相連，用于顯示被測(cè)LED數(shù)碼管是否為良品。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述顯示模塊采用數(shù)碼管或者指示燈。
10.一種根據(jù)權(quán)利要求1-9之一所述LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)的光電檢測(cè)方法，其特征在于：包括以下步驟：
步驟S1、在處于暗箱外的可切換工裝板上的工作位上放置被測(cè)LED數(shù)碼管；
步驟S2、啟動(dòng)工裝板驅(qū)動(dòng)模塊將可切換工裝板上放置有被測(cè)LED數(shù)碼管的工作位移動(dòng)到暗箱內(nèi)；
步驟S3、LED切換驅(qū)動(dòng)模塊在主控模塊的控制下將LED數(shù)碼管測(cè)試所需要的激勵(lì)源切換到暗箱內(nèi)的工作位上，并切斷對(duì)暗箱外工作位的激勵(lì)；
步驟S4、光學(xué)探測(cè)模塊獲取點(diǎn)亮后的被測(cè)LED數(shù)碼管的圖像信息，圖像處理模塊對(duì)所獲取的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處理，獲取LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息；電性能測(cè)試模塊獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的電學(xué)性能信息；
步驟S5、主控模塊根據(jù)被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息和電學(xué)性能信息判斷被測(cè)LED數(shù)碼管是否為良品。
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