[發明專利]采用雙可調光源法布里-珀羅干涉儀的微位移測量系統有效
| 申請號: | 201410569205.1 | 申請日: | 2014-10-22 |
| 公開(公告)號: | CN104266593A | 公開(公告)日: | 2015-01-07 |
| 發明(設計)人: | 任冬梅;朱振宇;李華豐;段小艷;李強 | 申請(專利權)人: | 中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100095*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 采用 可調 光源 法布里 干涉儀 位移 測量 系統 | ||
1.采用雙可調激光源法布里-珀羅干涉儀的微位移測量系統,其特征在于:采用兩個可調激光源交替跟蹤法布里-珀羅干涉儀諧振頻率變化,具體包括穩頻激光源(1)、可調激光源A(2)、可調激光源B(3)、第一偏振分光鏡(4a)、第二偏振分光鏡(4b)、第三偏振分光鏡(4c)、第四偏振分光鏡(4d)、第一平面反射鏡(5a)、第二平面反射鏡(5b)、參考反射鏡(6)、測量反射鏡(7)、第一光電接收器(8a)、第二光電接收器(8b)、第一分光鏡(9a)、第二分光鏡(9b)、第三分光鏡(9c)、第一高速光電接收器(10a)、第二高速光電接收器(10b)、頻率計數器A(11)和頻率計數器B(12);
上述各組成部分的連接關系為:可調激光源A(2)的右側依次為同光軸的第一偏振分光鏡(4a)、第二偏振分光鏡(4b)、參考反射鏡(6)、測量反射鏡(7)、第三偏振分光鏡(4c)和第一光電接收器(8a);其中,參考反射鏡(6)和測量反射鏡(7)組成法布里-珀羅腔;第三偏振分光鏡(4c)的正上方為第二光電接收器(8b),第二光電接收器(8b)與第三偏振分光鏡(4c)的中心連線垂直于可調激光源A(2)的光軸;可調激光源A(2)的正上方為可調激光源B(3),可調激光源B(3)的右側依次為同光軸的第四偏振分光鏡(4d)和第一平面反射鏡(5a);第四偏振分光鏡(4d)與第二偏振分光鏡(4b)中心對齊,第一平面反射鏡(5a)對應的縱向位置介于第二偏振分光鏡(4b)和參考反射鏡(6)之間;可調激光源A(2)的下方為穩頻激光源(1),穩頻激光源(1)的右側依次為同軸的第一分光鏡(9a)、第二分光鏡(9b)、第二高速光電接收器(10b)和頻率計數器B(12);第一分光鏡(9a)對應的縱向位置在第一偏振分光鏡(4a)的左側,第二分光鏡(9b)位于第一平面反射鏡(5a)的正下方,與第一平面反射鏡(5a)中心對齊;第一分光鏡(9a)的正下方為第二平面反射鏡(5b),第二平面反射鏡(5b)的右側依次為同軸的第三分光鏡(9c)、第一高速光電接收器(10a)和頻率計數器A(11);第三分光鏡(9c)位于第一偏振分光鏡(4a)的正下方。
2.如權利要求1所述的采用雙可調光源法布里-珀羅干涉儀的微位移測量系統,其特征在于:從可調激光源A(2)發出的光束,被第一偏振分光鏡(4a)分為兩束,透射光束經過第二偏振分光鏡(4b)后射向由參考反射鏡(6)和測量反射鏡(7)組成的法布里-珀羅腔,透過測量反射鏡(7)的光束透過第三偏振分光鏡(4c),射向第一光電接收器(8a);被第一偏振分光鏡(4a)反射的光束,被下方的第三分光鏡(9c)反射,射向第一高速光電接收器(10a);
從可調激光源B(3)發出的光束,被第四偏振分光鏡(4d)分為兩束,反射光束被下方的第二偏振分光鏡(4b)反射,射向由參考反射鏡(6)和測量反射鏡(7)組成的法布里-珀羅腔,透過測量反射鏡(7)的光束被第三偏振分光鏡(4c)反射,射向第二光電接收器(8b);透過第四偏振分光鏡(4d)的光束,經第一平面反射鏡(5a)反射后,被下方的第二分光鏡(9b)反射,射向第二高速光電接收器(10b);
從穩頻激光器(1)發出的光束,被第一分光鏡(9a)分為兩束,透射光束透過右側的第二分光鏡(9b),與來自可調激光源B(3)的光束相遇,射向第二高速光電接收器(10b);被第一分光鏡(9a)反射的光束,經第二平面反射鏡(5b)反射后透過第三分光鏡(9c),與來自可調激光源A(2)的光束相遇,射向第一高速光電接收器(10a);第一高速光電接收器(10a)的輸出信號送至頻率計數器A,第二高速光電接收器(10b)的輸出信號送至頻率計數器B。
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