[發明專利]超高速光采樣時鐘的多通道失配測量方法及測量補償裝置

有效

• 申請號: 201410567490.3
• 申請日: 2014-10-22
• 公開（公告）號: CN104296884B
• 公開（公告）日: 2017-12-12
• 發明（設計）人: 鄒衛文;楊光;張華杰;陳建平
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00
• 代理公司: 上海恒慧知識產權代理事務所(特殊普通合伙)31317
• 代理人: 張寧展

1.一種超高速光采樣時鐘的多通道失配測量方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

步驟1、利用1×2光纖耦合器(2)將待測多通道光脈沖信號序列分為2路，一路多通道光脈沖信號序列輸入至光譜分析儀(3-1)，另一路將多通道光脈沖信號序列通過光電探測器(4-1)輸入至電頻譜分析儀(4-2)，所述的光譜分析儀(3-1)和電頻譜分析儀(4-2)將輸入信號的測量結果分別輸出至數據分析與處理模塊(5)；

步驟2、計算各通道中的幅值a_k，k＝1,2,…,M，M為通道總數，公式如下：

ak=|∫-∞+∞Ek(f)df|2---(17)]]>

其中，E_k(f)為第k通道中光譜分析儀測得的光頻譜；

計算各通道中的其為u_k(t)的傅里葉變換，u_k(t)為第k通道中脈沖的歸一化波形，f為頻譜，t為時間，公式如下：

u~k(f)=|Ek(f)|2max{|Ek(f)|2}---(18)]]>

步驟3、計算延時誤差τ_k，公式如下：

10log10PM(τ1,τ2,...,τM)Pk(τ1,τ2,...,τM)=CM-Ck,k=1,2,...,Mτ1=0---(19)]]>

其中C_k為電頻譜分析儀測得的M個頻譜峰值，k＝1,2,…,M，P_k為射頻譜在[0,f_s]區間上M個峰值：

Pk=(RPDMTs)2|Σl=1Malu~l(kfs/M)e-j2π(kfs/M)τle-j2πk(l-1)/M|2,k=1,2,...,M---(20)]]>

其中，M為通道總數，T_s為采樣周期，f_s＝1/T_s，R_PD為光電探測器的響應度。