[發明專利]一種分別檢測微量Mg2+、Zn2+或F-的熒光光譜法

有效

• 申請號: 201410565802.7
• 申請日: 2014-10-22
• 公開（公告）號: CN104237194A
• 公開（公告）日: 2014-12-24
• 發明（設計）人: 冉茂乾;沈韻;趙遠會;曾晞;牟蘭
• 申請（專利權）人: 貴州大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 貴陽東圣專利商標事務有限公司 52002
• 代理人: 徐逸心;袁慶云

1.?一種分別檢測微量Mg²⁺、Zn²⁺或F^-的熒光光譜法，其特征是用化學名稱為雙-(7-羥基-香豆素-8-醛)縮乙二胺的化合物，簡寫為s1，作為熒光法用于檢測微量Mg²⁺、Zn²⁺或F^-的熒光試劑；（1）試劑s1在N,N-二甲基甲酰胺（DMF）溶液中測定Mg²⁺時，以350nm為熒光激發波長，測定430nm處的熒光強度，在Mg²⁺一定濃度范圍內，熒光強度與Mg²⁺濃度成線性關系，用熒光增強法測定Mg²⁺；（2）試劑s1在DMF/H₂O（1/4，v/v）溶液中測定Zn²⁺時，以360nm為熒光激發波長，測定457nm處的熒光強度，在Zn²⁺一定濃度范圍內，熒光強度與Zn²⁺濃度成線性關系，用熒光增強法測定Zn²⁺；（3）試劑s1在DMF溶液中測定F^-時，以360nm為熒光激發波長，測定460nm處的熒光強度，在F^-一定濃度范圍內，熒光強度與F^-濃度成線性關系，用熒光增強法測定F^-。

2.?根據權利要求1所述的一種分別檢測微量Mg²⁺、Zn²⁺或F^-的熒光光譜法，其特征是（1）測定Mg²⁺時，其它共存金屬離子：Zn²⁺，Ca²⁺，Ba²⁺,Sr²⁺，Hg²⁺，Co²⁺，Ni²⁺，Cu²⁺，Cd²⁺，Pb²⁺，Li⁺，Na⁺，K⁺，Ag⁺，Al³⁺，Fe³⁺，Cr³⁺之一，在濃度為Mg²⁺濃度10倍量時，除Co²⁺，Cu²⁺，Pb²⁺，Cd²⁺，Zn²⁺離子有共存影響外，其它金屬離子不干擾Mg²⁺的測定；（2）測定Zn²⁺時，其它共存金屬離子：Mg²⁺，Ca²⁺，Ba²⁺,Sr²⁺，Hg²⁺，Co²⁺，Ni²⁺，Cu²⁺，Cd²⁺，Pb²⁺，Li⁺，Na⁺，K⁺，Ag⁺，Al³⁺，Fe³⁺，Cr³⁺之一，在濃度為Zn²⁺濃度10倍量時，除Hg²⁺，Co²⁺，Cu²⁺，Cr³⁺，Ni²⁺離子有共存影響外，其它金屬離子不干擾Zn²⁺的測定；（3）測定F^-時，其它共存陰離子：Cl^-，Br^-，I^-，HSO₄^-，AcO^-，NO₃^-，ClO₄^-，PF₆^-，H₂PO₄^-，PF₆^-之一，在濃度為F^-濃度10倍量時，不干擾F^-的測定。