[發明專利]一種大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準波數定標方法有效
| 申請號： | 201410564597.2 | 申請日： | 2014-10-21 |
| 公開（公告）號： | CN104266758A | 公開（公告）日： | 2015-01-07 |
| 發明（設計）人： | 杜述松;相里斌;才啟勝;張金剛 | 申請（專利權）人： | 中國科學院光電研究院 |
| 主分類號： | G01J3/45 | 分類號： | G01J3/45;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260 | 代理人： | 鄭立明;鄭哲 |
| 地址： | 100080 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 孔徑 空間 外差 干涉 光譜 成像 基準 定標 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準波數定標方法，其特征在于，該方法包括：
利用一波數與所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的基準波數一致的激光器發射光線；
所述激光器的發射光線經由準直系統后射入所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀中；
采集所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的輸出光譜并利用光譜復原算法實現對所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準波數的定標。
2.根據權利要求1所述定標方法，其特征在于，所述利用光譜復原算法實現對所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準波數的定標包括：
通過所述光譜復原算法從所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的輸出光譜中獲得激光器發射光線的光譜，并與已知光譜線對比，確定所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的實際最小波數，從而實現對所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀基準波數的定標。
3.根據權利要求1或2所述定標方法，其特征在于，
當所述激光器的波數等于所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的基準波數時，所述大孔徑空間外差干涉光譜成像儀的輸出光譜為近似的直流分量；若不相等，則輸出明暗相間的干涉條紋。
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