[發明專利]一種微型鉆頭和微型鉆頭的制造方法在審
| 申請號: | 201410564087.5 | 申請日: | 2014-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN104384573A | 公開(公告)日: | 2015-03-04 |
| 發明(設計)人: | 張賀勇;陳成;屈建國 | 申請(專利權)人: | 深圳市金洲精工科技股份有限公司 |
| 主分類號: | B23B51/00 | 分類號: | B23B51/00;H05K3/00;C23C14/06;C23C14/32;C23C14/35;B32B15/04;B32B9/00 |
| 代理公司: | 深圳市百瑞專利商標事務所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 田夏 |
| 地址: | 518116 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 微型 鉆頭 制造 方法 | ||
1.一種微型鉆頭,其特征在于,所述微型鉆頭包括涂層,所述涂層由內向外包括:
打底層,過渡層和核心層,其中,
打底層的材料為Me,
過渡層的材料為MeN,
核心層的材料為MeAlN,
所述Me為Ti、Cr、Zr、Hf或V中的一種或幾種。
2.根據權利要求1所述的一種微型鉆頭,其特征在于,所述涂層包括覆蓋在核心層上的頂層,所述頂層的材料為MeAlSiN。
3.根據權利要求1所述的一種微型鉆頭,其特征在于,所述Me為Ti。
4.根據權利要求3所述的一種微型鉆頭,其特征在于,所述核心層中,鋁原子的原子百分比為0.45≤Al/(Al+Ti)≤0.70。
5.根據權利要求2所述的一種微型鉆頭,其特征在于,所述Me為Ti,所述頂層中,硅原子的原子百分比為0.03≤Si/(Al+Ti+Si)≤0.15。
6.根據權利要求2所述的一種微型鉆頭,其特征在于,所述打底層的厚度為10至100納米,所述過渡層的厚度為80至300納米,所述核心層的厚度為1.5至3微米,所述頂層的厚度為0.5至1.0微米。
7.一種微型鉆頭,其特征在于,所述微型鉆頭包括涂層,所述涂層由內向外包括:
打底層、過渡層、核心層和頂層,其中,
打底層的材料為Me,
過渡層的材料為MeN,
核心層的材料為MeAlN,
頂層的材料為MeAlSiN,
所述Me為Ti、Cr、Zr、Hf或V中的一種或幾種。
8.一種如權利要求1所述的微型鉆頭的制造方法,其特征在于,包括以下步驟,
S1,清洗微型鉆頭的硬質合金基體;
S2,將清洗完成的微型鉆頭裝入加熱爐內,將爐內溫度設定為300至500℃進行加熱烘烤;
S3,開啟金屬Me靶弧電源,采用脈沖偏壓增強的Me等離子體對微型鉆頭的硬質合金基體進行刻蝕,Me靶電流50至100A,脈沖負偏壓峰值-800至-1000V,占空比10%至30%;
S4,采用電弧離子鍍技術在硬質合金基體的表面沉積Me金屬形成打底層,弧電流50至100A,脈沖偏壓峰值-100至-300,占空比10%至30%;
S5,通入氬、氮氣混合氣體,采用電弧離子鍍技術在所述打底層上面沉積MeN形成過渡層,所用靶材為純金屬Me靶材,氬氣體流量15至30sccm,氮氣流量45至100sccm,弧電流50至100A,脈沖偏壓峰值-100至-300V,占空比30%至50%;
S6,采用直流磁控濺射技術在所述過渡層上沉積MeAlN形成核心層,Me靶電流5至10A,Al靶電流2.5至6.0A,離子源功率1.0至3.0Kw,氬氣體流量15至30sccm,氮氣氣體流量65至100sccm,脈沖負偏壓峰值-50至-200V,占空比30%至50%;
所述Me為Ti、Cr、Zr、Hf或V。
9.根據權利要求8所述的一種微型鉆頭的制造方法,其特征在于,在步驟S6完成后包括步驟S7,采用磁控濺射技術在所述核心層上沉積MeAlSiN形成頂層,Me靶電流5至10A,中頻AlSi合金靶電流2.5至10.0A,離子源功率1.0至3.0Kw,氬、氮氣氣體流量保持不變,脈沖負偏壓峰值-50至-200V,占空比30%至50%。
10.根據權利要求8所述的一種微型鉆頭的制造方法,其特征在于,所述Me為Ti。
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