[發(fā)明專利]一種自動(dòng)化測(cè)試裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410555239.5 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104318755A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-01-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 莊昆瑜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市同洲電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G08C25/00 | 分類號(hào): | G08C25/00 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強(qiáng) |
| 地址: | 518057 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 自動(dòng)化 測(cè)試 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種自動(dòng)化測(cè)試裝置及方法。
背景技術(shù)
當(dāng)前機(jī)頂盒和電視等需紅外控制的產(chǎn)品在產(chǎn)品研發(fā)和測(cè)試階段需進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的遙控老化測(cè)試,例如,機(jī)頂盒需分別重復(fù)一千次切換頻道、選擇菜單等功能的測(cè)試,而且不同型號(hào)的機(jī)頂盒所要測(cè)試的功能或測(cè)試時(shí)間也不同,若所有的測(cè)試工作均由人工手動(dòng)測(cè)試完成,將耗費(fèi)巨大的人力成本且易造成人員疲勞而易出錯(cuò)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種自動(dòng)化測(cè)試裝置及方法,能夠記錄不同紅外遙控按鍵的鍵值,可以對(duì)被測(cè)試裝置進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種自動(dòng)化測(cè)試裝置,該裝置包括處理器電路、紅外接收電路、紅外發(fā)射電路和時(shí)鐘電路,
所述紅外接收電路,用于在所述處理器電路檢測(cè)到記錄指令時(shí),接收遙控器發(fā)送的紅外信號(hào)并將所述紅外信號(hào)轉(zhuǎn)換為方波信號(hào);
所述時(shí)鐘電路,用于記錄所述紅外接收電路接收所述紅外信號(hào)時(shí)的時(shí)刻值;
所述處理器電路,用于將所述方波信號(hào)解析為相應(yīng)的鍵值,并將所述鍵值和所述時(shí)刻值對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)到記錄文件中,并在檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),根據(jù)所述記錄文件中所述時(shí)刻值之間的時(shí)間間隔,依次將所述時(shí)刻值對(duì)應(yīng)的所述鍵值轉(zhuǎn)換為高低電平信號(hào);
所述紅外發(fā)射電路,用于根據(jù)所述處理器電路轉(zhuǎn)換的所述高低電平信號(hào),向被測(cè)試裝置發(fā)送紅外信號(hào)。
相應(yīng)地,本發(fā)明實(shí)施例還公開(kāi)了一種自動(dòng)化測(cè)試方法,該方法包括:
當(dāng)檢測(cè)到記錄指令時(shí),接收遙控器發(fā)送的紅外信號(hào)并將所述紅外信號(hào)轉(zhuǎn)換為方波信號(hào);
記錄接收所述紅外信號(hào)時(shí)的時(shí)刻值;
將所述方波信號(hào)解析為相應(yīng)的鍵值,并將所述鍵值和所述時(shí)刻值對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)到記錄文件中;
在檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),根據(jù)所述記錄文件中所述時(shí)刻值之間的時(shí)間間隔,依次將所述時(shí)刻值對(duì)應(yīng)的所述鍵值轉(zhuǎn)換為高低電平信號(hào);
根據(jù)所述高低電平信號(hào),向被測(cè)試裝置發(fā)送紅外信號(hào)。
本發(fā)明實(shí)施例中,紅外接收電路可以接收紅外信號(hào)并將其轉(zhuǎn)換為方波信號(hào),以使處理器電路解析該方波信號(hào)對(duì)應(yīng)的鍵值,時(shí)鐘電路可以記錄接收各鍵值對(duì)應(yīng)的紅外信號(hào)時(shí)的時(shí)刻值,處理器電路可以將紅外接收電路和時(shí)鐘電路獲得的鍵值和時(shí)刻值對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)到記錄文件中,從而可以在檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),根據(jù)記錄文件將各時(shí)刻值對(duì)應(yīng)的鍵值轉(zhuǎn)換為高低電平信號(hào),輸出給紅外發(fā)射電路,由紅外發(fā)射電路根據(jù)高低電平信號(hào)控制向被測(cè)試裝置發(fā)送紅外信號(hào)。可見(jiàn),本發(fā)明實(shí)施例可以通過(guò)自動(dòng)接收、記錄、發(fā)送等操作完成對(duì)被測(cè)試裝置的自動(dòng)化測(cè)試,從而節(jié)省人力成本,提高測(cè)試效率。
附圖說(shuō)明
為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的一種自動(dòng)化測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的另一種自動(dòng)化測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的一種自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的示意圖;
圖4是本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的一種自動(dòng)化測(cè)試方法的流程示意圖;
圖5是本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的另一種自動(dòng)化測(cè)試方法的流程示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種自動(dòng)化測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖,能夠記錄不同紅外遙控按鍵的鍵值,可以對(duì)被測(cè)試裝置進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。以下分別進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
請(qǐng)參閱圖1,圖1是本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)的自動(dòng)化測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,該自動(dòng)化測(cè)試裝置可以包括紅外接收電路1、時(shí)鐘電路2、處理器電路3和紅外發(fā)射電路4。
其中,紅外接收電路1、紅外發(fā)射電路4和時(shí)鐘電路2可以分別與處理器電路3中處理器的輸入輸出端口(I/O)連接。
紅外接收電路1,用于在所述處理器電路檢測(cè)到記錄指令時(shí),接收遙控器發(fā)送的紅外信號(hào)并將所述紅外信號(hào)轉(zhuǎn)換為方波信號(hào)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市同洲電子股份有限公司,未經(jīng)深圳市同洲電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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