[發明專利]校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的裝置有效
| 申請號: | 201410550735.1 | 申請日: | 2014-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN104266610A | 公開(公告)日: | 2015-01-07 |
| 發明(設計)人: | 賀巖;呂德亮;姚斌 | 申請(專利權)人: | 上海大恒光學精密機械有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/26 | 分類號: | G01B11/26 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 張澤純;張寧展 |
| 地址: | 201800 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校正 標定 三維 激光 掃描儀 內部 電機 空間 位置 裝置 | ||
1.一種校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的裝置,特征在于該裝置包括激光器(1)、光分束器(2)、旋轉棱鏡(3)、反射鏡(4)、漫反射片(5)、外差信號驅動放大器(6)、光合束器(7)、光電探測器(8)和電外差解調器(9),其位置關系是:激光器(1)發射的激光經過光分束器(2)分為探測光和參考光,探測光到達旋轉棱鏡(3)鏡面;旋轉棱鏡(3)將光線發生90°的折轉,并隨著旋轉棱鏡的運動形成一個掃描平面,旋轉面的掃描線經過反射鏡(4)時,光線經反射鏡(4)折轉抵達漫反射片(5),然后旋轉棱鏡(3)將漫反射片(5)反射的回波信息反射到儀器內部,經過外差信號驅動放大器(6)放大后,反射光與參考光在光合束器(7)合束,由光電探測器(8)探測相干光信號,并將其轉化為電信號,經過電外差解調器(9)解調出檢校裝置反射信號的波形。
2.根據權利要求1所述的校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的裝置,其特征在于所述的激光器為單頻光纖激光器。
3.根據權利要求1所述的校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的裝置,其特征在于所述的旋轉棱鏡為金屬棱鏡及玻璃棱鏡。
4.根據權利要求1所述的校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的裝置,其特征在于所述的光分束器和光合束器均為光纖結構。
5.根據權利要求1所述的校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的裝置,其特征在于所述的光環形器和望遠鏡組合實現了單望遠鏡同時收發光信號。
6.根據權利要求1所述的校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的裝置,其特征在于所述的光電探測器為PIN光電二極管。
7.根據權利要求1所述的校正和標定三維激光掃描儀內部電機空間位置的方法及裝置,其特征在于所述的各光學器件均采用光纖接口,之間的光路均由單模光纖連接。
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