[發(fā)明專利]熒光檢測樣品池及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410548940.4 | 申請日： | 2014-10-16 |
| 公開（公告）號： | CN105572046B | 公開（公告）日： | 2018-06-26 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李穎;胡書新;馬麗;劉仁威;范蘇娜;李明 | 申請（專利權）人： | 中國科學院物理研究所 |
| 主分類號： | G01N21/03 | 分類號： | G01N21/03;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京泛華偉業(yè)知識產權代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇;王博 |
| 地址： | 100190 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 襯底 透明 熒光檢測 樣品池 容納空間 氧化石墨烯 金屬薄膜 制備 傳統(tǒng)顯微鏡 入射光波長 縱向分辨率 成像光路 熒光標記 照明光路 出樣孔 進樣孔 納米級 粘結 容納 | ||
1.一種熒光檢測樣品池，其特征在于，包括：
第一透明襯底；
第二透明襯底，所述第二透明襯底上依次具有金屬薄膜和氧化石墨烯，所述第二透明襯底和第一透明襯底粘結在一起且限定了用于容納樣品的容納空間，所述金屬薄膜和氧化石墨烯位于所述第一透明襯底和第二透明襯底之間；
所述第一透明襯底具有與所述容納空間相連通的進樣孔和出樣孔，或所述第二透明襯底具有與所述容納空間相連通的進樣孔和出樣孔。
2.根據權利要求1所述的熒光檢測樣品池，其特征在于，所述金屬薄膜是厚度不大于50納米的金薄膜或銀薄膜。
3.根據權利要求1或2所述的熒光檢測樣品池，其特征在于，所述熒光檢測樣品池還包括位于所述氧化石墨烯上的磷脂分子層。
4.根據權利要求1或2所述的熒光檢測樣品池，其特征在于，所述氧化石墨烯的層數為1。
5.根據權利要求1或2所述的熒光檢測樣品池，其特征在于，所述第一透明襯底的邊緣和第二透明襯底的邊緣粘結在一起。
6.根據權利要求1或2所述的熒光檢測樣品池，其特征在于，所述第一透明襯底為玻片或石英片，所述第二透明襯底為玻片或石英片。
7.根據權利要求6所述的熒光檢測樣品池，其特征在于，所述第一透明襯底或第二透明襯底的厚度為0.1～1毫米。
8.一種用于制備權利要求1至7中任一項所述的熒光檢測樣品池的制備方法，其特征在于，包括下列步驟：
1)在所述第一透明襯底上形成進樣孔和出樣孔，或在所述第二透明襯底上形成進樣孔和出樣孔；
2)在所述第二透明襯底上依次生長金屬薄膜和氧化石墨烯；
3)將所述第一透明襯底和第二透明襯底粘結在一起，使得所述第一透明襯底和第二透明襯底限定用于容納樣品的容納空間，所述金屬薄膜和氧化石墨烯位于所述第一透明襯底和第二透明襯底之間，所述進樣孔和出樣孔都與所述容納空間相連通。
9.根據權利要求8所述的制備方法，其特征在于，在所述步驟2)中還包括在所述氧化石墨烯上生長磷脂分子層。
10.根據權利要求8或9所述的制備方法，其特征在于，在所述步驟2)中，所述生長金屬薄膜是利用真空蒸鍍或電子束蒸發(fā)技術在所述第二透明襯底上生長厚度不大于50納米的金薄膜或銀薄膜，所述生長氧化石墨烯是利用LB膜技術生長單層氧化石墨烯。
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