[發明專利]用于測試存儲器的方法及裝置

有效

• 申請號: 201410546844.6
• 申請日: 2014-10-16
• 公開（公告）號: CN105575438B
• 公開（公告）日: 2020-11-06
• 發明（設計）人: 趙云午;王浩
• 申請（專利權）人: 恩智浦美國有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 秦晨

1.一種用于測試集成電路的存儲器的操作的方法，包括：

將第一數據載入第一觸發器掃描鏈，用于在第一測試模式下測試所述觸發器的數據保持；

將第二數據載入所述存儲器，用于在低功率模式下由存儲器內建自測試MBIST包裝器電路執行保持測試；

將所述集成電路的至少一部分和所述存儲器置于低功率狀態中達預定的時間段；

從所述存儲器中讀取所述第二數據；

基于所讀取數據確定在所述低功率狀態中的所述存儲器進行的所述第二數據的保持；

在第一測試模式下將第三數據載入所述第一觸發器掃描鏈以及與所述MBIST包裝器電路關聯的第二觸發器掃描鏈；

基于在所述第一觸發器掃描鏈及第二觸發器掃描鏈內的所述第三數據將所述集成電路的邏輯部分初始化到已知的狀態；

基于在所述第一觸發器掃描鏈及第二觸發器掃描鏈內的所述第三數據來測試在正常功率模式中的所述集成電路的所述邏輯部分。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括：從所述第一觸發器掃描鏈中卸載所述第一數據并且基于所卸載數據驗證所述第一觸發器掃描鏈進行的數據存儲。

3.根據權利要求1所述的方法，還包括：在所讀取數據與載入所述存儲器內的所述第二數據一致時輸出指示所述存儲器進行的數據的正確保持的信號。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述低功率模式是低泄漏停止模式。

5.根據權利要求1所述的方法，其中在所述低功率模式中，到所述集成電路的所述邏輯部分的時鐘被停止。

6.根據權利要求1所述的方法，其中所述低功率模式是狀態保持功率門控SRPG模式。

7.根據權利要求1所述的方法，其中所述預定的時間段是觸發器數據保持要求和存儲器保持要求中的較大者。

8.一種用于測試集成電路的存儲器的操作的系統，包括：

用于存儲數據的存儲器；

與所述存儲器耦接用于測試所述存儲器的操作的存儲器內建自測試MBIST包裝器電路，其中在低功率模式中所述MBIST包裝器電路在所述存儲器內存儲保持數據；

具有輸入和輸出的觸發器掃描鏈，其中在掃描測試模式中所述觸發器掃描鏈經由所述輸入來接收掃描數據并且將所述掃描數據存儲于其內；

組合邏輯；以及

用于控制至少所述組合邏輯的操作電壓的電源管理控制PMC單元，

其中所述PMC單元啟動低功率模式，在所述低功率模式中至少所述組合邏輯的操作電壓被降低達預定時間段，并且

所述MBIST包裝器電路從所述存儲器中讀取所述保持數據，并且基于所讀取數據來確定所述存儲器進行的數據的保持；

其中所述MBIST包裝器電路包括被布置為形成第二掃描鏈的多個第二觸發器，用于在掃描測試模式中初始化所述組合邏輯。

9.根據權利要求8所述的系統，其中所述掃描測試模式在系統操作電壓下執行。

10.根據權利要求8所述的系統，其中所述MBIST包裝器電路的所述第二觸發器在用于將所述保持數據存儲于所述存儲器內的低功率掃描測試模式中被排除于所述觸發器掃描鏈之外。

11.根據權利要求8所述的系統，其中所述組合邏輯的至少一部分與所述存儲器耦接，使得與所述存儲器的一個或多個連接在所述低功率模式中可操作于降低的操作電壓下。

12.根據權利要求8所述的系統，還包括：狀態保持功率門控SRPG單元，被布置為測試在所述低功率模式中的所述觸發器掃描鏈進行的數據的保持。

13.根據權利要求8所述的系統，其中所述MBIST包裝器電路輸出指示在所述低功率模式中的所述存儲器進行的數據的正確保持的信號。