[發明專利]一種大量程折射率測量的方法在審
| 申請號： | 201410543273.0 | 申請日： | 2014-10-01 |
| 公開（公告）號： | CN105891152A | 公開（公告）日： | 2016-08-24 |
| 發明（設計）人： | 開盛;曹莊琪;沈益翰 | 申請（專利權）人： | 上海光刻電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/41 | 分類號： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 200233 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 量程 折射率 測量 方法 | ||
【說明書】：
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