[發明專利]一種基于插值的去平地效應方法

在審

• 申請號: 201410539130.2
• 申請日: 2014-09-27
• 公開（公告）號: CN104267397A
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 勵盼攀
• 申請（專利權）人: 勵盼攀
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90;G01S7/41
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及干涉相位圖的優化領域，特別涉及一種基于插值的去平地效應方法。

背景技術

由于InSAR本身受空間幾何關系的影響，處于方位向或距離向上高度相同的點在干涉圖上使本應保持不變的相位差發生了變化，造成干涉紋圖的相位偏移，使干涉相位差無法反映實際地面的高程變化，這種現象稱為平地效應。由于平地相位的存在會使干涉條紋密集化，增加相位解纏的難度，因此，在進行相位解纏前，需要進行平地效應消除。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種新的基于插值的去平地效應方法，通過對頻譜最大值段進行三次樣條插值使得圖像的頻率間隔更小，從而獲得更加準確的峰值位置，并獲得更加準確的條紋頻率，從而能夠更加徹底地去平地效應。

本發明提供了基于插值的去平地效應方法，包括：

步驟1：對復干涉相位圖的每行進行傅里葉變換，求取頻譜，并按幅度求和，即：并計算其最大值：B₁＝max[X₁(k)]；

步驟2：取所述最大值B₁處左右各兩個象素點，共計五個點作為距離向待插值向量；

步驟3：采用三次樣條插值算法對所述距離向待插值向量中每兩個點之間進行100個樣點的插值計算，得到由400個樣點組成的距離向插值向量Y₁(n)；

步驟4：求取插值向量Y₁(n)中的最大值C₁＝max[Y₁(n)]作為頻譜幅度最大值；

步驟5：確定所述頻譜幅度最大值C₁對應的條紋頻率作為距離向的峰值頻率，然后對距離向頻譜進行圓周位移，使得條紋的距離向峰值頻率移到頻譜的零頻處；

步驟6：將圓周位移后的距離向頻譜進行傅里葉反變換，即可得到去距離向平地的干涉相位圖

步驟7：對去距離向平地的干涉相位圖的每列進行傅里葉變換，求取頻譜，并按幅度求和，即：并計算其最大值：B₂＝max[X₂(k)]；

步驟8：取所述最大值B₂處左右各兩個象素點，共計五個點作為方位向待插值向量；

步驟9：采用三次樣條插值算法對所述方位向待插值向量中每兩個點之間進行100個樣點的插值計算，得到由400個樣點組成的方位向插值向量Y₂(n)；

步驟10：求取插值向量Y₂(n)中的最大值C₂＝max[Y₂(n)]作為頻譜幅度最大值；

步驟11：確定所述頻譜幅度最大值C₂對應的條紋頻率作為方位向的峰值頻率，然后對方位向頻譜進行圓周位移，使得條紋的方位向峰值頻率移到頻譜的零頻處；

步驟12：將圓周位移后的方位向頻譜進行傅里葉反變換，即可得到去方位向及去距離向平地的干涉相位圖

其中，復干涉相位圖的行方向為方位向，列方向為距離向。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整的描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

本發明提供一種基于插值的去平地效應方法，包括：

步驟1：對復干涉相位圖的每行進行傅里葉變換，求取頻譜，并按幅度求和，即：并計算其最大值：B₁＝max[X₁(k)]；

步驟2：取所述最大值B₁處左右各兩個象素點，共計五個點作為距離向待插值向量；

步驟3：采用三次樣條插值算法對所述距離向待插值向量中每兩個點之間進行100個樣點的插值計算，得到由400個樣點組成的距離向插值向量Y₁(n)；

步驟4：求取插值向量Y₁(n)中的最大值C₁＝max[Y₁(n)]作為頻譜幅度最大值；

步驟5：確定所述頻譜幅度最大值C₁對應的條紋頻率作為距離向的峰值頻率，然后對距離向頻譜進行圓周位移，使得條紋的距離向峰值頻率移到頻譜的零頻處；