[發明專利]一種ITO結構的LED芯片結構及其制備方法有效
| 申請號: | 201410535949.1 | 申請日: | 2014-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN104300053B | 公開(公告)日: | 2017-09-19 |
| 發明(設計)人: | 王智勇;楊翠柏;張楊;楊光輝 | 申請(專利權)人: | 華芯半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/32 |
| 代理公司: | 北京鴻元知識產權代理有限公司11327 | 代理人: | 陳英俊 |
| 地址: | 225500 江蘇省泰州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 ito 結構 led 芯片 及其 制備 方法 | ||
1.一種ITO結構的LED,其外延片結構為:包括有襯底(1)、成核層(2)、非摻雜GaN層(3)、N型摻雜GaN層(4)、InGaN/GaN多量子阱結構(5)、P型摻雜ITO層(6)、P電極(7)、N電極(8);其中,所述襯底(1)、成核層(2)、非摻雜GaN層(3)、N型摻雜GaN層(4)、InGaN/GaN多量子阱結構(5)、P型摻雜ITO層(6)、P電極(7)從下至上依次層疊設置;所述P電極(7)對應設置在P型摻雜ITO層(6)上;對所述外延片進行刻蝕,在N型摻雜GaN層(4)上制作N電極(8)。
2.根據權利要求1所述的一種ITO結構的LED,其特征在于:外延生長多量子阱結構后,終止生長,采用P型ITO代替傳統的P型GaN外延層。
3.根據權利要求1所述的一種ITO結構的LED,其特征在于:所述襯底(1)可為藍寶石、Si和SiC。
4.根據權利要求1所述的一種ITO結構的LED,其特征在于:所述成核層(2)可為低溫GaN層、高溫GaN、高溫AlN層及其組成的多晶格結構層。
5.根據權利要求1所述的一種ITO結構的LED,其特征在于:所述P電極(7)和N電極(8)的金屬為Ti/Au、Ti/Pt/Au、Ti/Al/Au、Ni、Ni/Au、Cr/Au、Pd、Ti/Pd/Au、Pd/Au中的一種。
6.根據權利要求1所述的一種ITO結構的LED,其特征在于:所述外延片可為多種材料體系,如GaAs、GaN和ZnO。
7.InGaN/GaN多量子阱結構為5-20個周期,所述InGaN勢阱層的生長溫度在720-820℃之間;所述GaN勢壘層的生長溫度在820-920℃之間。
8.一種權利要求1所述的一種ITO結構的LED的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)使用MOCVD或MBE生長LED外延片,在外延InGaN/GaN多量子阱層后終止生長;
2)對所述外延片進行表面酸洗;
3)對所述外延片依次進行正面勻膠、曝光、顯影處理,形成由光刻膠構成的InGaN/GaN多量子阱臺面刻蝕圖形,并去除圖形上方的殘膠;
4)采用ICP對所示外延片的InGaN/GaN多量子阱進行刻蝕,至N-GaN層終止;
5)對外延片進行依次進行正面勻膠、曝光、顯影處理,形成P型ITO生長臺面圖形,并去除P型ITO生長圖形上方的殘膠;
6)利用光刻膠構成的ITO生長圖形作為掩模,使用磁控濺射法、脈沖電鍍法或電弧離子鍍法制備ITO薄膜,剝離形成P-ITO層;
7)對所述外延片依次進行勻膠、曝光、顯影處理,形成由光刻膠構成的P電極臺面圖形,并去除圖形上方的殘膠;
8)在P-ITO上制備P電極并退火;
9)對所述外延片依次進行勻膠、曝光、顯影處理,形成由光刻膠構成的N電極臺面圖形,并去除圖形上方的殘膠;
10)在N-GaN上制備N電極并退火。
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