[發(fā)明專利]一種測(cè)試材料電磁特性的同軸夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410535218.7 | 申請(qǐng)日: | 2014-10-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104237575A | 公開(公告)日: | 2014-12-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙曉明;夏靖 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京鼎佳達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王偉鋒 |
| 地址: | 300387 *** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 材料 電磁 特性 同軸 夾具 | ||
所屬技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測(cè)試材料電磁特性的同軸夾具,具體涉及一種可以測(cè)試材料的屏蔽效能、復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率等多種電磁參數(shù)的同軸夾具。?
背景技術(shù)
一般測(cè)試材料屏蔽效能的夾具為同軸結(jié)構(gòu),因?yàn)樵谕S結(jié)構(gòu)中傳播的電磁波為橫電磁波,這與自由空間中傳播的電磁波一致。這種同軸夾具由相對(duì)的兩組標(biāo)準(zhǔn)同軸接頭、內(nèi)外導(dǎo)體口徑漸變部分與內(nèi)外導(dǎo)體等徑部分構(gòu)成,雖然內(nèi)外導(dǎo)體口徑漸變,但其特性阻抗在不同位置是恒定的,內(nèi)外導(dǎo)體由之間的支撐介質(zhì)固定,兩個(gè)外導(dǎo)體等徑部分通過法蘭盤連接,待測(cè)材料放置于兩個(gè)法蘭盤之間,為了減輕重量和尺寸,其等徑部分的軸向距離較短,不適合采用傳輸/反射法測(cè)量材料的復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率。而一般的用于測(cè)量材料的復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率的同軸夾具由于采用螺紋連接,也不適合測(cè)量材料的屏蔽效能。?
發(fā)明內(nèi)容
為了使同軸夾具既能測(cè)試材料的屏蔽效能,也能夠測(cè)試復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種測(cè)試材料電磁特性的同軸夾具,包括外導(dǎo)體、內(nèi)導(dǎo)體和兩個(gè)支撐介質(zhì),所述外導(dǎo)體內(nèi)部中空并通過支撐介質(zhì)同軸固定在內(nèi)導(dǎo)體外,所述內(nèi)導(dǎo)體的外表面和外導(dǎo)體的內(nèi)表面在軸向上任意一點(diǎn)與垂直于軸向的平面相交所得的曲線為兩個(gè)同心圓,由這兩個(gè)同心圓組成的同軸結(jié)構(gòu)的特性阻抗為恒定值;所述內(nèi)導(dǎo)體包括內(nèi)導(dǎo)體等徑延長(zhǎng)部分以及對(duì)稱設(shè)置的兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體等徑部分,所述外導(dǎo)體包括兩端帶法蘭盤的外導(dǎo)體等徑延長(zhǎng)部分和對(duì)稱設(shè)置的一端帶法蘭盤的兩個(gè)外導(dǎo)體等徑部分,測(cè)試材料的屏蔽性能時(shí),兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體等徑部分分別與兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體堵?頭相接,兩個(gè)外導(dǎo)體等徑部分之間通過法蘭盤連接,測(cè)試材料的復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率時(shí),內(nèi)導(dǎo)體等徑延長(zhǎng)部分兩端與兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體等徑部分連接,外導(dǎo)體等徑延長(zhǎng)部分兩端與兩個(gè)外導(dǎo)體等徑部分連接。?
當(dāng)測(cè)試材料的屏蔽性能時(shí),?
所述兩個(gè)外導(dǎo)體等徑部分法蘭盤之間以及兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體堵頭之間放置屏蔽效能待測(cè)材料對(duì)比試樣或屏蔽效能待測(cè)材料試樣;?
所述屏蔽效能待測(cè)材料對(duì)比試樣包括法蘭盤部分和內(nèi)導(dǎo)體部分;?
所述屏蔽效能待測(cè)材料對(duì)比試樣法蘭盤部分通過螺釘和螺母連接在兩個(gè)外導(dǎo)體等徑部分法蘭盤之間;?
所述屏蔽效能待測(cè)材料對(duì)比試樣內(nèi)導(dǎo)體部分夾在兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體堵頭之間;?
所述屏蔽效能待測(cè)材料試樣通過螺釘和螺母連接在兩個(gè)外導(dǎo)體等徑部分法蘭盤之間;?
當(dāng)測(cè)試材料的復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率時(shí),所述內(nèi)導(dǎo)體等徑延長(zhǎng)部分外表面及外導(dǎo)體等徑延長(zhǎng)部分內(nèi)表面之間放置復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率待測(cè)材料試樣;?
所述內(nèi)導(dǎo)體包括對(duì)稱設(shè)置的兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體口徑漸變部分、和兩個(gè)內(nèi)導(dǎo)體連接器;所述內(nèi)導(dǎo)體口徑漸變部分的大口徑端與內(nèi)導(dǎo)體等徑部分通過螺紋相連并固定支撐介質(zhì);?
所述外導(dǎo)體包括對(duì)稱設(shè)置的兩個(gè)外導(dǎo)體口徑漸變部分,所述外導(dǎo)體口徑漸變部分的大口徑端與外導(dǎo)體等徑部分通過螺紋相連并套在內(nèi)導(dǎo)體口徑漸變部分、支撐介質(zhì)和內(nèi)導(dǎo)體等徑部分外,同時(shí)固定支撐介質(zhì),進(jìn)而固定內(nèi)外導(dǎo)體的位置;?
所述內(nèi)導(dǎo)體連接器采用接插的方式一端與內(nèi)導(dǎo)體等徑部分連接,另一端與內(nèi)導(dǎo)體等徑延長(zhǎng)部分連接。?
所述外導(dǎo)體口徑漸變部分和內(nèi)導(dǎo)體口徑漸變部分的小口徑端構(gòu)成的同軸結(jié)構(gòu)和標(biāo)準(zhǔn)的同軸接頭相連接;?
所述法蘭盤之間通過螺釘和螺母固定。?
有益效果:?
本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,便于操作,不接內(nèi)、外等徑延長(zhǎng)部分裝配時(shí),該夾具適合測(cè)量材料的屏蔽效能,接內(nèi)、外等徑延長(zhǎng)部分則可測(cè)量材料的復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率。?
附圖說明
圖1是本發(fā)明中所有零件的立體結(jié)構(gòu)示意圖?
圖2是本發(fā)明中用于屏蔽效能測(cè)試時(shí)的裝配分解圖(重復(fù)零件未繪制)。?
圖3是本發(fā)明中用于復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率測(cè)試的裝配分解圖(重復(fù)零件未繪制)。?
圖4是本發(fā)明中用于屏蔽效能測(cè)試時(shí)的裝配完成圖。?
圖5是本發(fā)明中用于復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率測(cè)試的裝配完成圖。?
圖6是本發(fā)明中用于屏蔽效能測(cè)試時(shí)的對(duì)比試樣,包括法蘭盤部分和內(nèi)導(dǎo)體部分。?
圖7是本發(fā)明中用于屏蔽效能測(cè)試時(shí)的試樣。?
圖8是本發(fā)明中用于屏蔽效能測(cè)試時(shí)的對(duì)比試樣安裝示意圖。?
圖9是本發(fā)明中用于屏蔽效能測(cè)試時(shí)的試樣安裝示意圖。?
圖10是本發(fā)明中用于復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率測(cè)試時(shí)的待測(cè)材料結(jié)構(gòu)示意圖?
圖11是本發(fā)明中用于復(fù)介電常數(shù)和復(fù)磁導(dǎo)率測(cè)試時(shí)的試樣安裝示意圖。?
附圖中:?
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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