[發明專利]毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置及其校準方法有效
| 申請號: | 201410534830.2 | 申請日: | 2010-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN104316910B | 公開(公告)日: | 2017-02-15 |
| 發明(設計)人: | 陳志強;李元景;趙自然;劉以農;吳萬龍;張麗;林東;沈宗俊;羅希雷;鄭志敏;桑斌;曹碩;金穎康 | 申請(專利權)人: | 清華大學;同方威視技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/40 | 分類號: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司11021 | 代理人: | 王鵬鑫 |
| 地址: | 100084*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 毫米波 檢查 設備 輻射計 溫度 校準 裝置 及其 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種用于毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置及其校準方法。
背景技術
所公知的是,毫米波檢查設備的輻射計容易受到溫度變化的影響,一種是工作環境的溫度變化,例如早晨的工作環境溫度與中午的工作環境溫度可能不同,另一種是輻射計自身的溫度變化,例如長時間工作后輻射計自身的溫度會升高。這些溫度變化對輻射計的測量精度影響很大,會造成輻射計初值的漂移和增益的變化。
但是,遺憾的是,在現有的毫米波檢查設備中,沒有為輻射計設計任何溫度校準裝置,導致輻射計的檢測精度不高。
發明內容
本發明的目的旨在解決現有技術中存在的上述問題和缺陷的至少一個方面。
相應地,本發明的目的之一在于提供一種能夠提高輻射計檢測精度的輻射計溫度校準裝置。
本發明的另一個目的在于提供一種結構簡單的輻射計溫度校準裝置。
本發明的再一個目的在于提供一種結構緊湊且體積小的輻射計溫度校準裝置。
根據本發明的一方面,其提供一種毫米波檢查設備的輻射計溫度校準裝置,包括:常溫校準機構,所述常溫校準機構的校準溫度等于當前環境溫度,用于校準輻射計的初值;和高溫校準機構,所述高溫校準機構的校準溫度高于當前環境溫度,用于與常溫校準機構一起校準輻射計的增益。
根據本發明的一個優選實施例,所述常溫校準機構包括:可轉動的常溫校準鏤空轉筒組件;和第一驅動電機,所述第一驅動電機安裝在支架上,用于驅動常溫校準鏤空轉筒組件圍繞所述輻射計連續轉動。
根據本發明的另一個優選實施例,所述高溫校準機構包括:高溫校準半圓板組件;和第二驅動電機,所述第二驅動電機安裝在支架上,用于驅動高溫校準半圓板組件圍繞所述輻射計擺動。
根據本發明的另一個優選實施例,所述常溫校準鏤空轉筒組件和所述高溫校準半圓板組件繞同一軸線運動。
根據本發明的另一個優選實施例,所述支架為U形支架,其具有前壁和與前壁相對的后壁。
根據本發明的另一個優選實施例,所述常溫校準鏤空轉筒組件的一端與轉軸連接,所述轉軸與所述第一驅動電機的輸出軸連接。
根據本發明的另一個優選實施例,所述轉軸的軸端鉆有帶鍵的軸孔,所述第一驅動電機的輸出軸插入所述轉軸的軸孔中,從而實現兩者之間的直接對接。
根據本發明的另一個優選實施例,所述支架的前壁a上形成有軸承座,所述轉軸通過軸承轉動地支撐在軸承座的通孔中。
根據本發明的另一個優選實施例,所述支架的后壁上分別形成有:用于安裝第一驅動電機的第一電機定位孔;和用于安裝第二驅動電機的第二電機定位孔。
根據本發明的另一個優選實施例,所述第一電機定位孔a與所述軸承座的通孔同心。
根據本發明的另一個優選實施例,所述常溫校準機構還包括溫度傳感器,用于檢測所述常溫校準鏤空轉筒組件的溫度。
根據本發明的另一個優選實施例,所述常溫校準機構還包括位置傳感器,用于檢測所述常溫校準鏤空轉筒組件的初始位置。
根據本發明的另一個優選實施例,所述位置傳感器為接近開關,并安裝在支架上;并且在所述常溫校準鏤空轉筒組件上設置有與所述位置傳感器相對應的凸起,當所述常溫校準鏤空轉筒組件位于初始位置時,所述位置傳感器與所述凸起直接相對。
根據本發明的另一個優選實施例,所述常溫校準鏤空轉筒組件包括:鏤空轉筒;和設置在鏤空轉筒內側的吸波材料。
根據本發明的另一個優選實施例,所述常溫校準機構還包括:隔熱器件,所述隔熱器件、設置在所述轉軸與常溫校準鏤空轉筒組件之間,用于防止第一驅動電機產生的熱量經所述轉軸傳導到常溫校準鏤空轉筒組件。
根據本發明的另一個優選實施例,所述高溫校準半圓板組件的一端通過扇形支架固定在第一同步齒形帶輪上,所述第一同步齒形帶輪通過軸承轉動地支撐在所述轉軸上,所述第一同步齒形帶輪通過同步齒形帶與第二驅動電機的輸出軸上的第二同步齒形帶輪相聯。
根據本發明的另一個優選實施例,所述高溫校準半圓板組件從內向外依次包括:隔熱套、吸波材料、導熱板、電阻加熱膜、保溫材料和隔熱板。
根據本發明的另一個優選實施例,所述高溫校準機構還包括:溫度傳感器,所述溫度傳感器設置在所述高溫校準半圓板組件的內部,與電阻加熱膜接觸,用于檢測所述高溫校準半圓板組件的溫度。
根據本發明的另一個優選實施例,所述高溫校準機構還包括:兩個限位檢測器,用來限制所述高溫校準半圓板組件的擺動范圍。
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