[發明專利]去除X射線散射和衍射實驗中模糊效應的方法

有效

• 申請號: 201410531802.5
• 申請日: 2014-10-10
• 公開（公告）號: CN104268421B
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 王文佳;常廣才;胡凌飛;張連輝;董宇輝;劉鵬
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;G06T5/00;A61B6/03
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理事務所(普通合伙)11435
• 代理人: 孟阿妮,郭棟梁

1.一種去除X射線散射和衍射實驗中模糊效應的方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)測量直通光斑在二維探測器上的分布，得到h(x,y)；

(2)測量實驗樣品散射數據，得到g(x,y)；

(3)分別將h(x,y)，g(x,y)進行傅立葉變換，得直通光斑在倒易空間的分布H(u,v)和散射數據在倒易空間的分布G(u,v)；

(4)對實驗數據H(u,v)和G(u,v)由維納濾波算法進行去卷積處理，得到去模糊效應后數據f(x,y)的傅立葉變換F(u,v)，

式中α為穩定因子；

(5)將F(u,v)進行反傅立葉變換得到去模糊效應后的數據f(x,y)；

(6)根據f(x,y)的結果對參數α進行調整，直至得到所需的去卷積結果；

所述α的調整遵從由大到小的原則，先選用較大的α值，后逐步縮小直到f(x,y)出現雜峰為止。

2.根據權利要求1所述的去除X射線散射和衍射實驗中模糊效應的方法，其特征在于，所述步驟(1)包括：

移除光束阻擋，加檔板測量直通光斑在二維探測器上的分布，得到h(x,y)。

3.根據權利要求1所述的去除X射線散射和衍射實驗中模糊效應的方法，其特征在于，所述α的調整遵從先粗調步長，調到臨界值時改用細調步長，所述粗調步長為8-12，細調步長為1-3。