[發(fā)明專利]一種介質(zhì)層為陽極氧化膜的薄膜電容器的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410531700.3 | 申請日: | 2014-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN104332330B | 公開(公告)日: | 2017-09-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 宋振國;王斌;路波;曹乾濤;胡瑩璐 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團公司第四十一研究所 |
| 主分類號: | H01G13/00 | 分類號: | H01G13/00 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司37221 | 代理人: | 張勇 |
| 地址: | 266555 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 介質(zhì) 陽極 氧化 薄膜 電容器 制造 方法 | ||
1.一種介質(zhì)層為陽極氧化膜的薄膜電容器的制造方法,其特征是:包括以下步驟:
(1)準備基片,在所述基片上沉積一層金屬或金屬化物薄膜;
(2)使用光刻腐蝕工藝將上述薄膜圖形化,形成下電極和第一下電極引出線;
(3)在下電極和第一下電極引出線上涂抹光刻膠,通過光刻工藝形成陽極氧化掩模;
(4)陽極氧化下電極,形成介質(zhì)層;
(5)在基片上沉積電極層,通過光刻腐蝕工藝將電極層圖形化,形成第二下電極引出線、上電極和上電極引出線;
所述步驟(3)中,所述陽極氧化掩模的開口區(qū)裸露出下電極并且開口區(qū)的面積大于下電極,使得下電極的表面和邊緣側(cè)面在陽極氧化時均被氧化形成絕緣層;陽極氧化掩模的厚度為1-30微米,隨著陽極氧化電壓的升高,陽極氧化掩模的厚度也隨之增加,以保證陽極氧化過程中不被擊穿;
所述步驟(5)中,上電極邊緣不超出介質(zhì)層邊緣。
2.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征是:所述步驟(1)中,所述基片為硅、砷化鎵、藍寶石、石英、氧化鋁陶瓷或氮化鋁陶瓷。
3.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征是:所述步驟(1)中,所述金屬薄膜為Ta薄膜,或金屬化物薄膜為TaN薄膜。
4.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征是:所述步驟(1)中,所述金屬或金屬化物薄膜的厚度為50-500nm。
5.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征是:所述步驟(3)中,第一下電極引出線被陽極氧化掩模完全覆蓋。
6.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征是:所述步驟(4)中,陽極氧化采用先恒流后恒壓的方式進行,電流密度設(shè)定值為0.1-10mA/mm2,氧化電壓設(shè)定為10-300V,電流密度越大,陽極氧化的速度越快,氧化電壓越高,形成的介質(zhì)層的厚度越大。
7.如權(quán)利要求1所述的制造方法,其特征是:所述步驟(5)中,電極層為單層或多層金屬薄膜。
8.如權(quán)利要求7所述的制造方法,其特征是:所述多層金屬薄膜為TiW-Au、TaN-TiW-Au、NiCr-Au、Ni-Au或Cr-Au多層膜結(jié)構(gòu)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子科技集團公司第四十一研究所,未經(jīng)中國電子科技集團公司第四十一研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410531700.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





