[發明專利]上置式極坐標調節裝置有效
| 申請號: | 201410528902.2 | 申請日: | 2014-10-09 |
| 公開(公告)號: | CN104299883B | 公開(公告)日: | 2017-08-22 |
| 發明(設計)人: | 董曉峰;陳煥文;王姜;顧海巍 | 申請(專利權)人: | 東華理工大學 |
| 主分類號: | H01J49/04 | 分類號: | H01J49/04 |
| 代理公司: | 北京尚誠知識產權代理有限公司11322 | 代理人: | 魯兵 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 上置式極 坐標 調節 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種上置式極坐標手動調節裝置,特別是一種應用在表面解吸常壓化學電離源的調節裝置,利用此裝置可優化配置表面解吸常壓化學電離質譜分析技術中的特定參數。
背景技術
表面解吸常壓化學電離(Desorption Atmospheric Pressure Chemical Ionization,DAPCI)質譜(Mass Spectrum,MS)技術,已經成功地應用于食品醫藥衛生、國防安全、公共安全以及質譜成像等諸多領域,在航天航空、環境監測、催化化學、有機合成等領域也有著重要的應用前景。
表面解吸常壓化學電離(DAPCI)技術以常壓電暈放電產生初級離子作為能荷載體,通過氣-固-氣或液-固-氣三相進行能荷傳遞,實現固體表面分子的高效電離。實驗中,可根據樣品的形態和待測物的性質等對DAPCI的各參數進行調整,以達到最好的檢測效果。
研究表明,離子源噴頭、樣品臺與質譜儀進樣口之間的空間位置參數,如離子源噴頭與質譜儀進樣口的角度α、離子源噴頭與質譜儀進樣口的Z向距離a1、離子源噴頭與質譜儀進樣口的Y向距離b1、樣品臺與質譜儀進樣口的Z向距離a2、樣品臺與質譜儀進樣口的Y向距離b2五個參數(如圖1所示)對質譜分析信號強度有顯著的影響。然而,目前現有裝置一般由直線調節模塊與角度調節模塊拼裝而成,集成度低,穩定性差,精度不高,操作不便;而實驗室里所用的裝置一般由支撐棒、萬向桿架、不銹鋼三通管接頭拼裝的噴頭等簡單耦合而成,無法精確定量描述溶劑通道噴頭、樣品臺與質譜儀進樣口之間的空間位置參數,而且結構受到限制,穩定性不高,嚴重限制了DAPCI-MS技術的發展。
發明內容
為了克服現有裝置集成度低、穩定性差、精度不高、操作不便等問題,本發明特提供一種用于表面解吸常壓化學電離源的上置式極坐標手動調節裝置。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種用于表面解吸常壓化學電離源的上置式極坐標手動調節裝置,包括與質譜儀進樣口連接的安裝接口,在所述安裝接口的前端上部安裝一Y向平移調節模塊,所述Y向平移調節模塊的末端安裝一Z向平移調節模塊,所述Z向平移調節模塊的末端安裝一繞X軸旋轉的A軸角度調節模塊,所述A軸角度調節模塊的末端安裝一離子源噴頭,在所述安裝接口的正上部安裝一用于電氣連接的綜合接口,在所述安裝接口的前端下部安裝一進樣Z向自動調節模塊,在所述進樣Z向調節模塊正上方安裝一進樣X向自動進給模塊,在所述進樣X向自動進給模塊后方安裝一進樣Y向手動調節模塊。其特征是:
所述的安裝接口由安裝前端、耐磨套、旋轉軸、左扳手、右扳手組成,所述耐磨套嵌在所述安裝前端下部的孔里,用于與所述質譜儀進樣口的定位銷軸配合安裝定位,所述旋轉軸為兩個鋼軸,可在所述安裝前端兩側的孔里旋轉,所述左扳手、所述右扳手分布固定在兩個所述旋轉軸的頭部,旋轉述左扳手、所述右扳手,即可安裝鎖緊所述的安裝接口到質譜儀進樣口上。
進一步講,所述的Y向平移調節模塊由Y向安裝板、Y向滑座、Y向導軌、Y向微分頭頂端座、Y向微分頭安裝座、Y向微分頭、Y向拉簧、Y向鎖緊螺頭、Y向鎖緊片、Y向刻度尺組成,所述Y向安裝板通過螺栓固定在所述安裝接口上,所述Y向安裝板與所述Y向滑座之間通過所述Y向導軌連接,可實現所述Y向安裝板與所述Y向滑座之間的相對平移運動,同時所述Y向安裝板與所述Y向滑座之間通過螺釘連接一所述Y向拉簧,所述Y向微分頭頂端座通過螺釘固定在所述Y向滑座上,所述Y向微分頭安裝座通過螺釘固定在所述Y向安裝板上,所述Y向微分頭插在所述Y向微分頭安裝座的孔內并使用緊定螺釘固定,同時頂在所述Y向微分頭頂端座上,當正向旋轉所述Y向微分頭的尾部手柄時,所述Y向微分頭的頭部向上運動,同時帶動所述Y向滑座向上運動,當反向旋轉述Y向微分頭的尾部手柄時,所述Y向微分頭的頭部向后下運動,所述Y向滑座在所述Y向拉簧的拉力作用下向下運動,所述Y向鎖緊螺頭擰在所述Y向安裝板的另一側,所述Y向鎖緊片通過螺釘固定在Y向滑座的另一側,所述Y向刻度尺通過螺釘固定在所述Y向安裝板的另一側,擰緊所述Y向鎖緊螺頭就把所述Y向鎖緊片緊緊地壓在所述Y向安裝板上,實現所述Y向安裝板與所述Y向滑座之間的運動鎖止,同時所述Y向鎖緊片上的三角尖對應在所述Y向刻度尺上的刻度,指示出當前離子源噴頭與質譜儀進樣口的Y向距離b1。
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