[發明專利]基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統

在審

• 申請號: 201410527821.0
• 申請日: 2014-10-09
• 公開（公告）號: CN104363047A
• 公開（公告）日: 2015-02-18
• 發明（設計）人: 李偉;王瑋鈺;孫文惠;王文亭;劉建國;祝寧華
• 申請（專利權）人: 中國科學院半導體研究所
• 主分類號: H04B10/077
• 分類號: H04B10/077;H04B10/073
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 任巖

1.一種基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，包括：

一光源；

一微波源；

一三通道直流電壓源；

一雙通道馬赫曾德爾調制器，其光輸入端與光源的輸出端相連，該雙通道馬赫曾德爾調制器的射頻信號輸入端與微波源的輸出端相連，該雙通道馬赫曾德爾調制器的偏置電壓輸入端口1與三通道直流電壓源的輸出端口1相連，該雙通道馬赫曾德爾調制器的偏置電壓輸入端口2與三通道直流電壓源的輸出端口2相連，該雙通道馬赫曾德爾調制器的偏置電壓輸入端口3與三通道直流電壓源的輸出端口3相連；

一光帶通濾波器，其輸入端與雙通道馬赫曾德爾調制器的輸出端相連；

一摻鉺光纖放大器，其輸入端與光帶通濾波器的輸出端相連；

一光被測器件，其輸入端與摻鉺光纖放大器的輸出端相連；

一光電探測器，其輸入端與光被測器件的輸出端相連；

一微波信號幅度相位探測器，其輸入端與光電探測器的輸出端相連。

2.根據權利要求1所述的基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，其中所述光源是半導體窄線寬激光器。

3.根據權利要求1所述的基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，其中所述微波信號源是矢量網絡分析儀或微波信號源，可掃頻輸出。

4.根據權利要求1所述的基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，其中所述光帶通濾波器是基于硅基液晶技術的波形整形器、光濾波器、波分復用器或光纖光柵。

5.根據權利要求1所述的基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，其中所述光被測器件是光纖布拉格光柵或光帶通濾波器。

6.根據權利要求1所述的基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，其中所述光源的中心波長小于光被測器件的中心波長，以使得所述光載波信號的上邊帶都能通過光被測器件。

7.根據權利要求1所述的基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，其中所述光電探測器是光電二極管或光電倍增管。

8.根據權利要求1所述的基于雙通道馬赫曾德爾調制器的光矢量網絡分析儀系統，其中所述微波信號幅度相位探測器為矢量網絡分析儀。