[發明專利]一種樹木葉面塵土量的確定方法及系統

有效

• 申請號: 201410525056.9
• 申請日: 2014-10-08
• 公開（公告）號: CN104374711A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發明（設計）人: 吳春燕;王雪峰
• 申請（專利權）人: 中國林業科學研究院資源信息研究所
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25
• 代理公司: 北京市商泰律師事務所 11255
• 代理人: 毛燕生

1.一種樹木葉面塵土量的確定方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1)、建立預估方程并確定方程參數：

步驟1：采集葉片樣本；

步驟2、用萬分之一電子天平稱取葉片重量；

步驟3、用便捷式光譜儀測量葉片除塵前的反射光譜；

步驟4：用去離子水洗凈葉片表面塵土；

步驟5：稱取葉片除塵后的重量；

步驟6：用同樣的方法測量葉片除塵后的反射光譜；

步驟7、獲取光譜參數并建立光譜與葉面塵土量之間的關系；

步驟2)、利用光譜數據估計葉面塵土量；

步驟8、獲取葉片反射光譜值；

步驟9、從葉片的反射光譜值中獲得光譜參數；

步驟10、根據光譜參數利用葉面塵土量預估模型確定葉面塵土量；

步驟①、計算初始塵土量y₀；

步驟②、根據y₀按著分級原則確定虛擬變量k₁,k₂；

步驟③、根據預估方程估計葉面塵土量，進一步，可以進行污染評測分級。

2.根據權利要求1所述的一種樹木葉面塵土量的確定方法，其特征在于，所述光譜參數包括：綠峰x₁、紅邊參數x₂、簡單比值指數x₃以及歸一化指數x₄。

3.根據權利要求1或2所述的一種樹木葉面塵土量的確定方法，其特征在于，所述葉面塵土量預估模型為：

y=(p0+p1k1+p2k2)x1x3x2x4---(1)]]>

其中，

y：葉面塵土量；

x₁：綠峰；

x₂：紅邊參數；

x₃：簡單比值指數；

x₄：歸一化指數；

k₁、k₂：虛擬變量；

p₀、p₁、p₂：待定標參數；

所述待定標參數通過實驗獲得。

4.根據權利要求1所述的一種樹木葉面塵土量的確定方法，其特征在于，確定葉面塵土量預估方程參數的步驟：

采集葉片樣本；用鑷子將每片葉片夾到精度為萬分之一天平的載物盤上稱除塵前的葉片重量(M₁)；將葉片放在光譜儀的探頭下測量除塵前的反射光譜；用化妝棉將葉片在裝有去離子水的塑料盆內輕輕的快速洗凈，用吸水紙將葉片表面的水吸干；再用精度為萬分之一的天平稱除塵后的葉片重量(M₂)，得到質量差ΔM＝M₁-M₂；則ΔM為葉面塵土量；用同樣的方法測量葉片除塵后的反射光譜；獲取光譜參數并建立光譜與葉面塵土量之間的關系。