[發明專利]圖像檢測裝置及圖像形成設備

在審

• 申請號: 201410524966.5
• 申請日: 2014-10-08
• 公開（公告）號: CN104849972A
• 公開（公告）日: 2015-08-19
• 發明（設計）人: 尾形健太;浜津誠;山內彰二
• 申請（專利權）人: 富士施樂株式會社
• 主分類號: G03G15/00
• 分類號: G03G15/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王小東

技術領域

本發明涉及圖像檢測裝置及圖像形成設備。

背景技術

在圖像形成設備中，公知專利文獻1至4中描述的關于這樣一種裝置的技術，該裝置檢測保持在圖像保持構件的表面上的圖像，這些技術描述如下。

作為專利文獻1的日本專利特開4154272號公報公開了這樣一種構造，在該構造中，感光鼓5的表面或圖像反射由發光元件31發射的光，并且由第一光接收元件32檢測鏡面反射光，同時由第二光接收元件33接收漫反射光。

作為專利文獻2的日本專利特開2002-162803號公報與作為專利文獻3的日本專利特開2002-55572號公報公開了這樣一種技術，在該技術中，僅由光電二極管29或傳感器33檢測LED?25或光源31朝中間轉印帶12或61發射的光的鏡面反射光分量，并且通過讀取中間轉印帶12或61上的圖像檢測定位失準或色調劑濃度。

作為專利文獻4的日本專利特開3661446號公報公開了這樣一種技術，在該技術中，由光接收裝置42接收發光裝置41朝圖像載體21發射的光的漫反射光以檢測濃度。在日本專利特開3661446號公報中描述的構造中，發光裝置41或光接收裝置42由濃度檢測傳感器40的保持件43支撐，并且在保持件43中，形成將光從發光裝置41引至圖像載體21的出射光路45與將漫反射光從圖像載體21引至光接收裝置42的入射光路46。而且，在保持件43中，形成在發光裝置41的位置處從出射光路45分出來的第一光路47與從第一光路47朝光接收裝置42延伸的第二光路48。在第一光路47與第二光路48的連接部分處形成基準反射面44，該基準反射面是濃度基準點，來自發光裝置41的光在該濃度基準點處朝光接收裝置42鏡面反射。在日本專利特開3661446號公報中描述的構造中，形成第一光路47與第二光路48，使得基準反射面44接收的光量少至約為在具有最大濃度的色調劑圖像的情況下接收的光量的10％。

【專利文獻1】日本專利特開4154272號公報([0029]及圖1至圖3)

【專利文獻2】日本專利特開2002-162803號公報([0018]、[0027]及圖3)

【專利文獻3】日本專利特開2002-55572號公報([0045]至[0055]及圖2)

【專利文獻4】日本專利特開3661446號公報([0029]至[0033]及圖2)

發明內容

本發明的技術目標是以高精度及低成本檢測圖像的濃度。

根據本發明的第一方面，提供一種圖像檢測裝置，該圖像檢測裝置包括：

發光單元，該發光單元朝表面上保持有圖像的圖像保持構件發射光；

第一光接收單元，該第一光接收單元布置在接收朝所述圖像保持構件發射的所述光的鏡面反射光的位置；

第二光接收單元，該第二光接收單元布置在接收朝所述圖像保持構件發射的所述光的漫反射光的位置，并且檢測強度等于或高于預定強度的光；

發光控制單元，該發光控制單元控制由所述發光單元發射的所述光的強度；在檢測保持在所述圖像保持構件上的圖像的情況下，將由所述發光單元發射的所述光的強度控制至預定的第一強度；并且在檢測基準濃度的情況下，將由所述發光單元發射的所述光的強度控制至第二強度，該第二強度高于所述第一強度；以及

基準構件，該基準構件布置在這樣的位置：在所述第一強度的情況下，強度小于所述第二光接收單元的可檢測強度的光經過該位置；并且在所述第二強度的情況下，強度等于或高于所述第二光接收單元的可檢測強度的光經過該位置，并且所述基準構件包括基準面，所述基準面在所述第二強度的情況下使由所述發光單元發射的所述光朝所述第二光接收單元反射并且具有作為預定基準的濃度。

根據本發明的第二方面，提供根據第一方面所述的圖像檢測裝置，

所述發光控制單元通過控制供應至所述發光單元的電流控制所述光的強度，并且

所述發光控制單元將在所述第二強度的情況下供應的第二電流值設定成等于或高于在所述第一強度的情況下供應的第一電流值的兩倍。

根據本發明的第三方面，提供根據第一方面或第二方面的所述圖像檢測裝置，