[發明專利]測定方法以及測定裝置

有效

• 申請號: 201410516779.2
• 申請日: 2014-09-30
• 公開（公告）號: CN104515514B
• 公開（公告）日: 2017-04-12
• 發明（設計）人: 西田信幸
• 申請（專利權）人: 株式會社拓普康
• 主分類號: G01C15/00
• 分類號: G01C15/00;G01B11/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 毛立群,張懿

1.一種測定方法，其為將測定裝置中的多個測定對象物進行監視測定的測定方法，上述測定裝置具有：照準上述測定對象物的望遠鏡部；經由該望遠鏡部照射測距光并測定到上述測定對象物為止的距離的測距部；拍攝照準方向并取得數字圖像的拍攝部；檢測上述望遠鏡部的照準方向的方向角的角度檢測部；以及使上述望遠鏡部自動照準上述測定對象物的自動照準部，其中，

該測定方法具備：

使上述望遠鏡部在水平方向、垂直方向旋轉，并將以包含多個測定對象物的方式設定的規定范圍進行掃描的工序；

在掃描的過程中，以包含相同的測定對象物的圖像變為多個的方式，以規定時間間隔取得數字圖像的工序；

檢測該數字圖像中的測定對象物像，并設定包圍該測定對象物像的最小矩形的工序；

進行將由多個數字圖像得到的上述最小矩形進行重疊，求出圖像中的上述測定對象物像的位置的綜合處理的工序；

基于由綜合處理求出的圖像中的位置和照準軸的方向角，計算測定對象物各個的復合方向角的粗測定工序；以及

將由該粗測定得到的上述復合方向角與各測定對象物相關聯，并將上述復合方向角作為自動照準用的目標值進行存儲的工序。

2.根據權利要求1所述的測定方法，其中，

還具備：

基于存儲的上述復合方向角依次使上述望遠鏡部自動照準上述測定對象物，并執行測距、測角的精密測定工序；以及

將由該精密測定得到的測定結果與上述測定對象物相關聯，并作為初期值來取得的工序。

3.一種測定裝置，其具備：

照準測定對象物的望遠鏡部；

經由該望遠鏡部照射測距光并測定到上述測定對象物為止的距離的測距部；

拍攝照準方向，并取得數字圖像的拍攝部；

檢測上述望遠鏡部的照準方向的方向角的角度檢測部；

使上述望遠鏡部自動照準上述測定對象物的自動照準部；

運算處理部；以及

存儲部，

上述運算處理部，使上述望遠鏡部在水平方向、垂直方向進行旋轉，使以包含多個測定對象物的方式設定的規定范圍進行掃描，在通過上述拍攝部進行掃描的過程中，以包含相同的測定對象物的圖像變為多個的方式，以規定時間間隔取得數字圖像，檢測該數字圖像中的測定對象物像，設定包圍該測定對象物像的最小矩形，進行將由多個數字圖像得到的上述最小矩形進行重疊，并求出圖像中的上述測定對象物像的位置的綜合處理的同時，基于由綜合處理求出的圖像中的位置與照準軸的方向角計算測定對象物各個的復合方向角，與各測定對象物相關聯，將該測定對象物的復合方向角作為自動照準用的目標值存儲于上述存儲部。

4.根據權利要求3所述的測定裝置，其中，

上述運算處理部，基于上述存儲部中存儲的上述目標值，在上述自動照準部中依次使上述望遠鏡部自動照準上述測定對象物，執行測距、測角的精密測定，將由該精密測定得到的測定結果與上述測定對象物相關聯，并作為初期值來取得。