[發明專利]一種電視機屏參測量儀及測量方法

有效

• 申請號: 201410516004.5
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN104270632B
• 公開（公告）日: 2017-01-18
• 發明（設計）人: 方威;侯亞榮
• 申請（專利權）人: 深圳創維-RGB電子有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙)44268
• 代理人: 王永文,劉文求

技術領域

本發明涉及電視技術領域，特別涉及一種電視機屏參測量儀及測量方法。??

背景技術

目前測量屏參時序時常采用示波器進行測量。使用示波器測量時，需要多次測量各個時序參數，如T1、T2、T3等（各時序參數T的含義為現有技術），每次測量時需要重新設置采樣率，放大倍數，觸發電壓等參數。一個時序參數的測量往往需要多次嘗試才能設置好合適的參數，而每次測試都需要對電視機進行一次開關機操作。測完所有時序參數需要開關機電視幾十次甚至上百次，導致測試操作很繁瑣、還大大延長了測試時間。同時，多次開關機也會對電視機的相關硬件模塊造成磨損，影響使用壽命。?

發明內容

鑒于上述現有技術的不足之處，本發明的目的在于提供一種電視機屏參測量儀及測量方法，以解決現有電視機屏參測量需多次開關機、多次設置參數導致操作繁瑣、測試時間較長的問題。?

為了達到上述目的，本發明采取了以下技術方案：?

一種電視機屏參測量儀，與電視機的機芯板連接，其包括信號處理模塊和MCU；

信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調整后傳輸給MCU；所述MCU對調整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態，并計算出電視機不同狀態時對應的時序參數。

所述的電視機屏參測量儀，其還包括緩存模塊，用于對MCU采樣的數據進行緩存，檢測所有采樣數據緩存完后、上傳所述采樣數據至MCU進行數據處理。?

所述的電視機屏參測量儀，其中，所述信號處理模塊包括：?

第一處理單元，用于對所述輸入信號中的PANEL?VCC信號進行衰減處理后傳輸至MCU?；

第二處理單元，用于對所述輸入信號中的LVDS?COLCK信號的電壓幅度進行放大后傳輸至MCU；

傳輸單元，用于將所述輸入信號中的BACK?LIGHT信號和PWM信號傳輸給MCU。

所述的電視機屏參測量儀，其中，所述第一處理單元包括一級衰減電路和二級衰減電路；?

所述一級衰減電路對PANEL?VCC信號進行2倍反向衰減，二級衰減電路對衰減后的PANEL?VCC信號進行2倍反向衰減后輸出。

所述的電視機屏參測量儀，其中，所述一級衰減電路包括第一電阻、第二電阻和第一運算放大器，所述第一運算放大器的正向輸入端接地，第一運算放大器的反向輸入端通過第一電阻連接機芯板，所述第一運算放大器的輸出端連接二級衰減電路、還通過第二電阻連接第一運算放大器的反向輸入端。?

所述的電視機屏參測量儀，其中，所述二級衰減電路包括第三電阻、第四電阻和第二運算放大器，所述第二運算放大器的正向輸入端接地，第二運算放大器的反向輸入端通過第三電阻連接第一運算放大器的輸出端，所述第二運算放大器的輸出端連接、還通過第四電阻連接第二運算放大器的反向輸入端。?

所述的電視機屏參測量儀，其中，所述第二處理單元包括第五電阻、第六電阻和第三運算放大器，所述第三運算放大器的正向輸入端連接機芯板，第三運算放大器的反向輸入端通過第六電阻接地、還通過第五電阻連接第三運算放大器的輸出端和MCU。?

所述的電視機屏參測量儀，其中，所述MCU為一單片機，所述單片機的PA0_WKUP腳連接第一處理單元，單片機的PA1腳連接第二處理單元，?單片機的PA2腳、PA3腳均連接傳輸單元。?

一種電視機屏參測量儀的測量方法，其包括：?

信號處理模塊采集機芯板上的所有輸入信號，對輸入信號進行電壓調整后傳輸給MCU；

MCU對調整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態，并計算出電視機不同狀態時對應的時序參數。

所述的測量方法，其中，所述MCU對調整后的輸入信號進行AD采樣，判斷電視機的狀態，并計算出電視機不同狀態時對應的時序參數的步驟具體包括：?

對調整后的輸入信號進行AD采樣；

判斷PANEL?VCC1信號的波形是否由低電平變為高電平；

若是，則計算開機的各時序參數；

若不是，則判斷PANEL?VCC1信號的波形是否由高電平變為低電平；若是，則計算關機的各時序參數。