[發(fā)明專(zhuān)利]一種致密儲(chǔ)層納米孔隙中殘余油的電鏡識(shí)別方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410515478.8
• 申請(qǐng)日: 2014-09-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104237267A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-12-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王曉琦;朱如凱;孫亮;金旭;李建明
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)石油天然氣股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N23/04
• 分類(lèi)號(hào): G01N23/04
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 李秀蕓

1.一種致密儲(chǔ)層納米孔隙中殘余油的電鏡識(shí)別方法，其特征在于，該方法包括：

獲取電鏡樣品；

對(duì)所述電鏡樣品進(jìn)行處理，得到顯露微納米孔隙的平整截面；

在所述顯露微納米孔隙的平整截面上獲得無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像；其中，所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像顯示微納米孔隙、原生有機(jī)質(zhì)分布；

在同一成像位置，獲取殘余油荷電的背散射圖像；其中，所述殘余油荷電的背散射圖像顯示微納米孔隙、原生有機(jī)質(zhì)分布；

分別對(duì)所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像和所述殘余油荷電的背散射圖像進(jìn)行孔隙提取，得到殘余油在三維孔隙空間中的分布，實(shí)現(xiàn)致密儲(chǔ)層納米孔隙中殘余油的識(shí)別。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述電鏡樣品通過(guò)致密儲(chǔ)層含油巖石加工獲得。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述顯露微納米孔隙的平整截面通過(guò)對(duì)所述電鏡樣品進(jìn)行離子刻蝕獲取。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述得到殘余油在三維孔隙空間中的分布步驟包括：

對(duì)所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像進(jìn)行物相分割，提取所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像中所有的孔隙；

對(duì)所述殘余油荷電的背散射圖像中含有殘余油的孔隙進(jìn)行提取，得到殘余油在三維孔隙空間中的分布；

獲得含有殘余油的孔隙占總孔隙的面積百分?jǐn)?shù)。

5.一種致密儲(chǔ)層納米孔隙中殘余油的電鏡識(shí)別裝置，其特征在于，該裝置包括：

樣品獲取單元，用于獲取電鏡樣品；

樣品預(yù)處理單元，用于對(duì)所述電鏡樣品進(jìn)行處理，得到顯露微納米孔隙的平整截面；

第一圖像獲取單元，用于在所述顯露微納米孔隙的平整截面上獲得無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像；其中，所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像顯示微納米孔隙、原生有機(jī)質(zhì)分布；

第二圖像獲取單元，用于在同一成像位置，獲取殘余油荷電的背散射圖像；其中，所述殘余油荷電的背散射圖像顯示微納米孔隙、原生有機(jī)質(zhì)分布；

識(shí)別單元，用于分別對(duì)所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像和所述殘余油荷電的背散射圖像進(jìn)行孔隙提取，得到殘余油在三維孔隙空間中的分布，實(shí)現(xiàn)致密儲(chǔ)層納米孔隙中殘余油的識(shí)別。

6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述樣品獲取單元通過(guò)致密儲(chǔ)層含油巖石加工獲得電鏡樣品。

7.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述樣品預(yù)處理單元通過(guò)對(duì)所述電鏡樣品進(jìn)行離子刻蝕獲取顯露微納米孔隙的平整截面。

8.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述識(shí)別單元包括：

第一孔隙提取模塊，用于對(duì)所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像進(jìn)行物相分割，提取所述無(wú)荷電現(xiàn)象的背散射圖像中所有的孔隙；

第二孔隙提取模塊，用于對(duì)所述殘余油荷電的背散射圖像中含有殘余油的孔隙進(jìn)行提取，得到殘余油在三維孔隙空間中的分布；

殘余油量獲取模塊，用于獲得含有殘余油的孔隙占總孔隙的面積百分?jǐn)?shù)。