[發明專利]一種面板測試點定位方法、裝置和測試面板的方法、系統

有效

• 申請號: 201410509980.8
• 申請日: 2014-09-28
• 公開（公告）號: CN105527464B
• 公開（公告）日: 2018-10-30
• 發明（設計）人: 李中旺;肖傳盛
• 申請（專利權）人: 深圳市誠信佳美科技有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R1/04
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

本發明提供一種面板測試點定位方法、裝置和測試面板的方法、系統，旨在解決現有的測試方法誤測率高、測試成本高和問題改善困難的技術問題。所述方法包括：吸附放置于工作臺的待測面板；根據標記點位置設置值和標記點周圍光學參數移動測試頭，使得圖像定位設備的鏡頭上出現的標記與待測面板的標記點重合，標記點位置設置值和標記點周圍光學參數事先設置于產品測試程序中保存；根據檢測位置設置值將測試頭移動至待測面板的測試點正上方；將測試頭下降至所述測試頭的測試探針與所述待測面板的測試點接觸；產品測試程序開始測試待測面板。本發明降低測試成本，在發現問題時可以及時改善而不會浪費資源，從而有利于增加企業的利潤。

技術領域

本發明屬于產品測試領域，尤其涉及一種面板測試點定位方法、裝置和測試面板的方法、系統。

背景技術

面板(panel)是很多現代電子信息產品中一種必不可少的元件，包括傳統的液晶面板和近年來非常流行的、用于智能設備(例如，智能手機等)的觸控面板(TouchingPanel)。展示于電子信息產品用戶面前的面板，不僅僅是一塊普通的玻璃或其他材質的板狀物，這些面板的其中一面或者兩面通常布有導電線路，用于傳遞電子信號。由于各種不可避免的因素，面板生產出來后，需要對其上布置的導電線路進行測試，以便確定該面板是否存在不良。實際的工業生產過程中，是選定一些測試點，通過對這些測試點的測試來達到對整個導電線路測試的目的。

現有的一種測試面板的方法是采用固定的測試架進行測試，這種測試方法是一種盲對位方法測試，針對不同的面板需要制作不同的測試治具，并且測試的對象通常是從一大塊成品中切割下來、不可再分割的單粒面板。在測試過程中，主要是依靠測試人員將測試產品在測試架上機械定位(即靠邊定位)后，再將測試頭下降至測試點，測試頭的測試探針與測試點接觸，從而完成測試。

上述現有測試面板的方法至少存在下述問題：

1)誤測率高。由于在測試過程中，產品完全依靠測試人員手工放置對位，在測試人員眼力不好、產品外形尺寸偏差大、產品切割尺寸偏差大、測試架制作精度不高、測試架磨損、產品測試點非常小或者測試密度較大的產品時，測試頭與測試點通常難以對準，如此，容易將實際上合格的產品誤判為不合格的產品而報廢面板，浪費了資源，減少了企業的利潤。

2)測試成本高。一種產品需要一套或多套測試治具，并且還需要專門的測試人員，這使得面板的測試成本大大提高，同樣也減少了企業的利潤。

3)問題改善困難。由于測試的對象是不可再分割的單粒面板，基本上是成品了。當在測試過程中發現該批次的面板不良率超過一定值時，再向前一制程反映問題往往于事無補，因為，這些面板已經成為成品，對于一些制作過程長的產品，良率改善非常困難或者成本較高，最后不得不報廢整個產品。

發明內容

本發明的目的在于提供一種面板測試點定位方法、裝置和測試面板的方法、系統、系統，旨在解決現有的測試方法誤測率高、測試成本高和問題改善困難的技術問題。

本發明是這樣實現的，一種測試面板的方法，所述方法包括：

吸附放置于工作臺的待測面板；

根據標記點位置設置值和標記點周圍光學參數移動測試頭，使得圖像定位設備的鏡頭上出現的標記與所述待測面板的標記點重合，所述標記點位置設置值和標記點周圍光學參數事先設置于對應產品測試程序中保存；

根據檢測位置設置值將所述測試頭移動至所述待測面板的測試點正上方，所述檢測位置設置值包括所述測試頭的測試探針與所述待測面板的測試點的角度偏差、在水平方向的距離差值和垂直方向的距離差值；

將所述測試頭上的測試針下降至所述測試頭的測試探針與所述待測面板的測試點一一對應接觸；

所述產品測試程序開始測試所述待測面板。