[發明專利]一種減少相位測量輪廓術中多路徑效應影響的方法

有效

• 申請號: 201410507715.6
• 申請日: 2014-09-29
• 公開（公告）號: CN104215201A
• 公開（公告）日: 2014-12-17
• 發明（設計）人: 劉凱;楊洋;鄭曉軍;吳煒;楊曉敏
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01B11/25
• 分類號: G01B11/25
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種減少相位測量輪廓術中多路徑效應影響的方法，其特征在于首先對得到的亮度調制參數進行差異計算，其次根據亮度調制的差異情況對求得的相位進行區域篩選，濾除受到多路徑效應影響強烈的區域，然后根據周圍像素點的相位值估算濾除區域的相位情況，再由估算后得到的相位進行三維重建。

2.按照權利要求1所述的方法，其特征在于所說的亮度調制參數的差異計算，主要是指對初步得到的亮度調制參數矩陣用其后一行的值減去前一行的值，即進行前向差分操作，所得到的差值構成一個新矩陣。

3.?按照權利要求1所述的方法，其特征在于所說的區域篩選和區域的濾除是指在顏色變化明顯的邊緣部分其亮度調制參數變化大，差異計算后得到的差值也較大，而在顏色變化平緩的部分得到的差值很小，所以利用差值的大小可以確定會受到多路徑效應影響大的區域，對差值設置閾值范圍就可以濾除受影響大的區域。

4.按照權利要求1所述的方法，其特征在于所說的相位值估算是指找到濾除部分的像素點所在矩陣列的前一個有效像素點和后一個有效像素點以線性關系估算其相位值，即線性插值，由此完成對濾除部分的相位值估算。