[發明專利]一種服務器內存系統的加速老化檢測方法

有效

• 申請號: 201410497774.X
• 申請日: 2014-09-25
• 公開（公告）號: CN104268043B
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 劉濤
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司37100
• 代理人: 姜明

技術領域

本發明涉及計算機檢測領域，具體是利用一種服務器內存系統的加速老化檢測方法，來解決當前在服務器主板內存系統存在老化強度小及老化測試覆蓋度低，無法實現真正全面有效的老化檢測問題。

背景技術

當前對服務器內存系統出廠老化檢測，成為影響服務器品質穩定性及運算可靠性的關鍵因素，服務器內存系統出廠老化檢測是為了在服務器正式交付客戶使用之前，采用嚴苛的測試條件將功能或品質薄弱內存條及時剔除出來，防止存在故障隱患的內存流向客戶使用環境。當前的通常做法是在出廠前的老化室中，運行內存的加壓軟件，對主板上的內存系統進行功能實測，同時在主板工作過程中，拉偏AC交流供電電壓，實際查看對主板的影響，根據功能實測結果實現對主板質量老化選擇控制。該方式存在老化強度小及老化測試覆蓋度低的問題，該方式下主板內存系統老化強度即加壓的強度，依賴于加壓軟件，通常情況下僅為單一數據的反復讀寫操作，表現在信號波形上，信號波形單一，內存系統的無法得到全面的測試，同時該方式的覆蓋程度很大程度上依靠測試時間，基于出廠檢測目的的老化測試覆蓋率無法得到保證，無法實現真正全面有效的老化控制。這種單一依靠加壓軟件及固定測試檢測時間的老化方式，無法快速有效檢測出主板內存系統的薄弱環節，給主板內存部分的質量管控實現帶來很大難度，進而使主板的內存部分質量可能出現波動，進而影響系統的穩定運行。在當前的服務器主板上內存的數量為12-24條不等，內存部分的穩定成為影響數據處理穩定性的關鍵因素；隨著對服務器系統運行安全要求不斷增加，為了保證服務器系統的穩定運行，在實際主板的內存系統出廠檢測操作過程中，如何實現服務器主板內存系統加速老化檢測的高效設計尤為重要，并成為決定服務器質量穩定的關鍵要素之一 。

發明內容

針對當前服務器內存系統老化檢測中遇到的上述問題，結合傳輸眼圖等關鍵電氣因素，通過深入分析，我們總結了一種服務器內存系統的加速老化檢測方法。

本發明是以老化加速控制理論支撐點，具體是利用一種服務器內存系統的加速老化檢測方法，來解決當前在服務器主板內存系統存在老化強度小及老化測試覆蓋度低，無法實現真正全面有效的老化檢測問題。本方法保證了服務器內存系統的加速老化，在實際主板內存系統的老化檢測操作過程中，實現服務器主板內存系統加速老化檢測的高效設計，保證了服務器系統的穩定運行，對于服務器系統的質量可靠性具有重要意義，具體發明內容可以分為如下幾個方面：

①將服務器滿配內存，并置于溫度變化的老化環境中，開機穩定運行30分鐘。

②動態調整服務器主板的內存供電電壓值，老化過程中實現連續的調整，使內存電壓值處于由高到低、由低到高反復的波動狀態。

③在內存槽layout走線附近，放置單端走線，其上加以高速階躍脈沖，增強系統的噪聲水平值。

④增大內存自身的動態刷新時間間隔，使內存單元的充電時間間隔加長，內存中存儲內容即更依賴于內存顆粒上存儲單元的自然放電速度。

⑤將內存地址空間進行隨機抽取，并對抽取區域進行數據的大塊讀寫，利用CPU的多核多線程特性，各內存地址空間并行進行讀寫，增大內存的測試覆蓋度。

將服務器滿配內存，并置于溫度變化的老化環境中，開機穩定運行30分鐘；在這30分鐘內，溫度要求進行三次溫變循環，即由20攝氏度升至50度，然后降至20攝氏度，往復三次，測試系統的溫度變化承受能力。

動態調整服務器主板的內存供電電壓值，即將內存的供電電壓在標準值基礎往上調5%，然后逐漸的下調，直到在標準值基礎往下調5%，老化過程中實現連續的上、下5%調整，使內存電壓值處于由高到低、由低到高反復的波動狀態，內存的供電處于不穩定狀態，對于質量薄弱的內存將無法容納此種工作條件。

在內存槽layout走線附近，放置單端走線，該走線連接到板載的CPLD芯片，在老化測試環節其上加以上升時間為2ns以內的高速階躍脈沖，使該單端走線的內存信息受到串擾噪聲的影響，增強內存系統的噪聲水平值，加速內存老化問題的出現。

增大內存自身的動態刷新時間間隔，使內存單元的充電時間間隔加長，此處由32ms增長為256ms，使內存中存儲內容即更依賴于內存顆粒上存儲單元的自然放電速度，放電速度直接影響數據內存的穩定。

將內存地址空間進行隨機抽取，不再采用順序讀寫方式，即以100MB空間為基本單元，并對抽取的100MB區域進行數據的大塊隨機讀寫，利用CPU的多核多線程特性，各內存地址空間并行進行讀寫，整個老化測試時間設置為240分鐘，增大內存的測試覆蓋度。