[發(fā)明專(zhuān)利]LED襯底結(jié)構(gòu)及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410495718.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-09-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104269482B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-03-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 丁海生;馬新剛;李東昇;李芳芳;江忠永 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 杭州士蘭明芯科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L33/22 | 分類(lèi)號(hào): | H01L33/22;H01L33/10;H01L33/00 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州市杭*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | led 襯底 結(jié)構(gòu) 及其 制作方法 | ||
1.一種LED襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:襯底,所述襯底第一表面上形成有周期性陣列排布的凸形結(jié)構(gòu)及反光體,所述反光體包括第一反光體和第二反光體,所述第一反光體環(huán)包所述凸形結(jié)構(gòu),所述第二反光體位于所述第一反光體上方,所述第二反光體形成碗狀圖形,所述碗狀圖形位于所述凸形結(jié)構(gòu)的上方,所述第一反光體和第二反光體一體形成,所述第一反光體與凸形結(jié)構(gòu)以及襯底的交界處形成有吸光層,所述凸形結(jié)構(gòu)頂壁及第二反光體表面均形成有DBR膜系,所述凸形結(jié)構(gòu)頂壁的DBR膜系設(shè)有納米窗口陣列,所述納米窗口陣列露出部分凸形結(jié)構(gòu)。
2.如權(quán)利要求1所述的LED襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第二反光體表面的DBR膜系形成碗狀結(jié)構(gòu),所述碗狀結(jié)構(gòu)位于被環(huán)包凸形結(jié)構(gòu)的上方。
3.如權(quán)利要求1或2所述的LED襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,所述納米窗口陣列露出的部分凸形結(jié)構(gòu)便于連接GaN層。
4.如權(quán)利要求1或2所述的LED襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,所述反光體的材料為氮化硅及二氧化硅中的一種或兩種組合。
5.如權(quán)利要求1或2所述的LED襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,所述吸光層的材料為鉻及鈦中的一種或兩種組合。
6.如權(quán)利要求1或2所述的LED襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,所述DBR膜系由SiO、SiO2、TiO2或者Ti3O5中的至少兩種材料層疊形成,每種材料按照λ/4n厚度交替生長(zhǎng),所述DBR膜系的生長(zhǎng)周期為3個(gè)-20個(gè)。
7.如權(quán)利要求1或2所述的LED襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,所述襯底和凸形結(jié)構(gòu)的材料為藍(lán)寶石。
8.一種LED襯底結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,包括:
提供襯底;
刻蝕所述襯底,以在所述襯底第一表面上形成周期性陣列排布的凸形結(jié)構(gòu);
在所述凸形結(jié)構(gòu)的側(cè)壁以及所述凸形結(jié)構(gòu)之間的襯底第一表面上形成吸光層;
在所述吸光層上形成反光體,所述反光體包括第一反光體和第二反光體,所述第一反光體環(huán)包所述凸形結(jié)構(gòu),所述第二反光體位于所述第一反光體上方,所述第二反光體形成碗狀圖形,所述碗狀圖形位于所述凸形結(jié)構(gòu)的上方,所述第一反光體和第二反光體一體形成;
在所述凸形結(jié)構(gòu)頂壁及第二反光體表面形成DBR膜系,所述凸形結(jié)構(gòu)頂壁的DBR膜系設(shè)有納米窗口陣列,所述納米窗口陣列露出部分凸形結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求8所述的LED襯底結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,刻蝕所述襯底,以在所述襯底第一表面上形成周期性陣列排布的凸形結(jié)構(gòu)包括:
在所述襯底上形成掩膜層;
利用光刻和刻蝕工藝,去除部分掩膜層,暴露出部分襯底;
刻蝕暴露出的部分襯底,以在所述襯底第一表面上形成周期性陣列排布的凸形結(jié)構(gòu);
去除剩余的掩膜層。
10.如權(quán)利要求9所述的LED襯底結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,在所述襯底上形成掩膜層中,所述掩膜層的材料為二氧化硅、氮化硅及氮氧化硅中的至少一種,所述掩膜層的厚度為0.1μm~1μm。
11.如權(quán)利要求9所述的LED襯底結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,利用干法或者濕法刻蝕工藝刻蝕暴露出的部分襯底。
12.如權(quán)利要求11所述的LED襯底結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,當(dāng)利用濕法刻蝕工藝刻蝕暴露出的部分襯底時(shí),選用的刻蝕液為硫酸和磷酸的混合液,所述混合液中硫酸和磷酸的體積比為3:1~10:1,工藝溫度為200℃~300℃,工藝時(shí)間為1分鐘~60分鐘。
13.如權(quán)利要求11所述的LED襯底結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,當(dāng)利用干法刻蝕工藝刻蝕暴露出的部分襯底時(shí),選用的干法刻蝕工藝為感應(yīng)耦合等離子體干法刻蝕工藝。
14.如權(quán)利要求8所述的LED襯底結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于,在所述凸形結(jié)構(gòu)的側(cè)壁以及所述凸形結(jié)構(gòu)之間的襯底第一表面上形成吸光層包括:
在所述凸形結(jié)構(gòu)的側(cè)壁、頂壁以及所述凸形結(jié)構(gòu)之間的襯底第一表面上形成吸光層;
在所述吸光層上形成光刻膠;
刻蝕所述光刻膠及最先露出的吸光層,去除部分光刻膠以及凸形結(jié)構(gòu)的頂壁上的吸光層;
去除剩余的光刻膠。
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H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件
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