[發明專利]一種單源能量檢測器及數據補償方法有效
| 申請號： | 201410494847.X | 申請日： | 2014-09-24 |
| 公開（公告）號： | CN104287767B | 公開（公告）日： | 2017-06-27 |
| 發明（設計）人： | 李雙學;解家祥 | 申請（專利權）人： | 沈陽東軟醫療系統有限公司 |
| 主分類號： | A61B6/03 | 分類號： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司11227 | 代理人： | 王寶筠 |
| 地址： | 110179 遼*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 能量 檢測器 數據 補償 方法 | ||
1.一種單源能量檢測器，其特征在于，包括：光子檢測器和積分檢測器，所述光子檢測器和所述積分檢測器混合排列；所述光子檢測器和所述積分檢測器對應一個輻射源；
所述積分檢測器工作在積分模式；
所述光子檢測器工作在光子計數模式；
所述積分檢測器，用于補償所述光子檢測器因計數飽和丟失的數據；
所述光子檢測器和所述積分檢測器在層方向上分兩部分排列，所述光子檢測器和所述積分檢測器位于同一檢測面內，且所述光子檢測器和所述積分檢測器沒有交叉重疊；所述兩部分為對稱或者不對稱的形式；所述層方向是指所述檢測器沿著旋轉軸的方向。
2.根據權利要求1所述的單源能量檢測器，其特征在于，當所述光子檢測器和所述積分檢測器在層方向上分兩部分排列時，所述積分檢測器，用于：
通過螺旋掃描獲得積分檢測器數據和光子檢測器數據；
用所述積分檢測器數據重建旋轉中心處的目標三維圖像，用所述目標三維圖像進行三維正投影，得到完整的投影數據集；利用所述投影數據集補償所述光子檢測器因計數飽和缺失的數據。
3.一種基于單源能量檢測器進行數據補償的方法，其特征在于，應用于單源能量檢測器，光子檢測器和積分檢測器，所述光子檢測器和所述積分檢測器混合排列；所述光子檢測器和所述積分檢測器對應一個輻射源；
包括以下步驟：
控制所述積分檢測器工作在積分模式下對所述輻射源發射的射線進行數據采集；
控制所述光子檢測器工作在光子計數模式對所述輻射源發射的射線進行數據采集；
利用所述積分檢測器采集的數據補償所述光子檢測器因計數飽和丟失的數據；
所述光子檢測器和所述積分檢測器在層方向上分兩部分排列，所述光子檢測器和所述積分檢測器位于同一檢測面內，且所述光子檢測器和所述積分檢測器沒有交叉重疊；所述兩部分為對稱或者不對稱的形式；所述層方向是指所述檢測器沿著旋轉軸的方向。
4.根據權利要求3所述的基于單源能量檢測器進行數據補償的方法，其特征在于，當所述光子檢測器和所述積分檢測器在層方向上分兩部分排列時，
通過螺旋掃描獲得積分檢測器數據和光子檢測器數據；
用所述積分檢測器數據重建旋轉中心處的目標三維圖像，用所述目標三維圖像進行三維正投影，得到完整的投影數據集；利用所述投影數據集補償所述光子檢測器因計數飽和缺失的數據。
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