[發明專利]探測器組件的調試夾具

有效

• 申請號: 201410488200.6
• 申請日: 2014-09-22
• 公開（公告）號: CN104385172B
• 公開（公告）日: 2017-01-25
• 發明（設計）人: 何曉英;周錦松;馮蕾;付錫祿;卜美俠
• 申請（專利權）人: 中國科學院光電研究院
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00
• 代理公司: 北京凱特來知識產權代理有限公司11260
• 代理人: 鄭立明,付久春

技術領域

本發明涉及探測器組件的調試領域，尤其涉及一種有效降低探測器組件的調試難度且提高調試精度的探測器組件的調試夾具。?

背景技術

隨著社會的進步和科學技術的不斷發展，對于設備的精度要求也越來越高，雖然現代的加工技術和精度有了足夠的提高，但是對于組合裝調精度很高的設備，最終的設計實現要靠調試來保證，所以裝調便利性和高效性成為裝調人員追捧的對象。?

根據設計的需求，為了裝調精度和效率的提高都會設計出相應的一些裝調輔助工裝，有些普遍適用的工裝夾具會成為定型產品，可以直接買到。但是許多新設計設備都有自己的獨特性，調試也是摸索的過程，摸索的過程就會設計出合適好用的夾具來滿足裝調的要求。?

目前對探測器組件調試都是先根據理論修切片的厚度開始調試，由于裝調的結果與理論之間的誤差會很大，每次要換很多次修切片的厚度來尋找相面的精確位置，每次調試都將要換幾十次的修切片的厚度尺寸才可以調試出滿意的結果，每次會加工很多的修切片用來調試，結果更多的是修切片和時間精力的浪費。因為每次的調試過程也只能保證修切的這一維方向，不能滿足三維方向的驗證，如果每次三維方向都要保證則需要很久的時間才可以調試一次，所以每次確定修切片可以保證探測器組件在相面上，再來調試另外二維方向，還會出現修切片不合適的狀態，所以滿足結果的試驗會花很長的時間和精力，極大的降低了工作的效率和成果。?

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種探測器組件的調試夾具，能準確、高效的從三維方向上調試探測器組件，從而解決現有探測器組件調試時間長及精度差的問題。?

為解決上述技術問題，本發明提供一種探測器組件的調試夾具，包括：?

四塊擋板、若干調整式導軌連接組件和若干調節螺釘組件；其中，?

所述四塊擋板中的一塊擋板為底部擋板，另外三塊擋板分別設置在所述底部擋板的三條邊上方，所述另外三塊擋板均垂直于所述底部擋板，所述四塊擋板內圍成放置待調試探?測器組件的調試空間；?

所述四塊擋板中相鄰的兩塊擋板均通過至少一個調整式導軌連接組件連接，每塊擋板通過其連接的調整式導軌連接組件均能調整與相鄰的其它擋板的相對位置；?

所述每塊擋板上設置至少一個調節螺釘組件，每個調節螺釘組件前端的調節塊均設置在所述調試空間內。?

本發明的有益效果為：通過將四塊擋板圍成調試空間，并使相鄰的擋板通過調整式導軌連接組件連接，及在各擋板上設置至少一個調節螺釘組件，使得該調試夾具能實現對調試空間內夾持的探測器組件在三維空間進行位置移動，可以同時滿足三維方向調試，并可方便更換不同尺寸的部件，適應不同尺寸探測器組件的調試，具有實用性、適應性和調試精度高的優點，該調試夾具在簡化調試過程的同時，也有效提高了調試效率。?

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域的普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他附圖。?

圖1為本發明實施例提供的調試夾具的結構示意圖；?

圖2為本發明實施例提供的調試夾具的另一角度結構示意圖。?

具體實施方式

下面對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明的保護范圍。?

圖1、圖2所示為本發明實施例提供一種探測器組件的調試夾具，用于調試探測器組件，該調試夾具包括：?

四塊擋板1、2、3、4、若干調整式導軌連接組件和若干調節螺釘組件61、62、63、64；其中，?

四塊擋板中1、2、3、4的一塊擋板為底部擋板4，另外三塊擋板1、2、3分別設置在底部擋板4的三條邊上方，另外三塊擋板1、2、3均垂直于底部擋板4，四塊擋板1、2、3、4內圍成放置待調試探測器組件7的調試空間；?

四塊擋板1、2、3、4中相鄰的兩塊擋板均通過至少一個調整式導軌連接組件5連接，每塊擋板通過其連接的調整式導軌連接組件均能調整與相鄰的其它擋板的相對位置；?

每塊擋板上設置至少一個調節螺釘組件，每個調節螺釘組件62前端的調節塊624均設置在調試空間內。?