[發明專利]一種襯底溫度補償的紅外焦平面陣列探測器讀出電路

在審

• 申請號: 201410485201.5
• 申請日: 2014-09-22
• 公開（公告）號: CN104266767A
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 呂堅;闕隆成;張壤勻;牛潤梅;周云
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01J5/24
• 分類號: G01J5/24
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 譚新民

1.一種襯底溫度補償的紅外焦平面陣列探測器讀出電路，其特征在于，包括：

像元電流偏置積分信號產生電路（10），所述像元電流偏置積分信號產生電路（10）包括第一電流偏置電路（101）、第二電流偏置電路（102）和積分電路（103），所述第一電流偏置電路（101）對探測微測輻射熱計進行恒流偏置獲得探測電壓（Vsce），所述第二電流偏置電路（102）對第一參考微測輻射熱計進行恒流偏置獲得第一參考電壓（Vref），所述積分電路（103）根據所述探測電壓（Vsce）和所述第一參考電壓（Vref）進行積分產生積分輸出信號（Vint）；

參考電壓產生電路（20），所述參考電壓產生電路（20）產生多個第二參考電壓；

流水線模數轉換器（30），所述流水線模數轉換器（30）根據所述多個第二參考電壓將所述積分輸出信號（Vint）轉換成數字信號。

2.如權利要求1所述的電路，其特征在于：所述第一電流偏置電路（101）包括第一恒流源（1010）和第一電壓跟隨器（1011），其中：

所述第一恒流源（1010）連接到所述探測微測輻射熱計（Rs）的一端；

所述第一電壓跟隨器（1011）的輸入端連接到所述探測微測輻射熱計（Rs）的與所述第一恒流源（1010）連接的所述一端，所述第一電壓跟隨器（1011）的輸出端連接到所述積分電路（103）。

3.如權利要求1或者2所述的電路，其特征在于：所述第二電流偏置電路（10）包括第二恒流源（1020）和第二電壓跟隨器（1021），其中：

所述第二恒流源（1020）連接到所述第一參考微測輻射熱計（Rb）的一端；

所述第二電壓跟隨器（1021）的輸入端連接到所述第一參考微測輻射熱計（Rb）的與所述第二恒流源（1020）連接的所述一端，所述第二電壓跟隨器（1021）的輸出端連接到所述積分電路（103）。

4.如權利要求1至3中任意一項所述的電路，其特征在于：所述參考電壓產生電路（20）包括第三恒流源（201）、多個第二參考微測輻射熱計（202）和多個第三電壓跟隨器（203），其中：

所述多個第二參考微測輻射熱計（202）相互串聯；

所述第三恒流源（201）與所述多個第二參考微測輻射熱計（202）串聯；

所述多個第三電壓跟隨器（203）中的每個第三電壓跟隨器的輸入端連接到所述多個第二參考微測輻射熱計（202）中的一個第二參考微測輻射熱計的一端、輸出端連接到所述參考電壓產生電路（20）的一個參考電壓輸出端并輸出一個所述第二參考電壓。

5.如權利要求1至4中任意一項所述的電路，其特征在于：所述第一參考微測輻射熱計不受入射的紅外輻射影響。

6.如權利要求5所述的電路，其特征在于：所述第一參考微測輻射熱計包括遮蔽罩，所述遮蔽罩阻擋入射的紅外輻射，使所述入射的紅外輻射不能入射到所述第一參考微測輻射熱計上。

7.如權利要求4中所述的電路，其特征在于：所述第二參考微測輻射熱計不受入射的紅外輻射影響。

8.如權利要求7所述的電路，其特征在于：所述第二參考微測輻射熱計包括遮蔽罩，所述遮蔽罩阻擋入射的紅外輻射，使所述入射的紅外輻射不能入射到所述第二參考微測輻射熱計上。