[發(fā)明專利]微弱引力天體巖石驟冷采樣方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410484020.0 | 申請日： | 2014-09-19 |
| 公開（公告）號： | CN104458317B | 公開（公告）日： | 2017-04-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張嘉雷;張曉敏;張燕;徐志明;徐云飛;韓孟飛;徐森 | 申請（專利權(quán)）人： | 航天東方紅衛(wèi)星有限公司 |
| 主分類號： | G01N1/04 | 分類號： | G01N1/04 |
| 代理公司： | 中國航天科技專利中心11009 | 代理人： | 安麗 |
| 地址： | 100094 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 微弱 引力 天體 巖石 采樣 方法 | ||
1.一種微弱引力天體巖石驟冷采樣方法，其特征在于，包括：
步驟S1，探測器上的驟冷劑噴射裝置接近目標天體上的采樣點；
步驟S2，所述驟冷劑噴射裝置噴灑驟冷劑導致所述采樣點的巖石破碎；
步驟S3，將所述采樣點的碎石收集到所述探測器的樣品艙內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微弱引力天體巖石驟冷采樣方法，其特征在于：
在步驟S1之前包括：步驟S11，姿軌控系統(tǒng)控制所述探測器接近所述目標天體。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微弱引力天體巖石驟冷采樣方法，其特征在于：
在步驟S11之后，步驟S1之前包括：步驟S12，使用近距離寬視場視頻相機觀察所述目標天體，選擇所述采樣點。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的微弱引力天體巖石驟冷采樣方法，其特征在于：
在步驟S12之后，步驟S1之前包括：步驟S13，利用非接觸式測溫儀對多個選定的所述采樣點進行測溫。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微弱引力天體巖石驟冷采樣方法，其特征在于：
在步驟S13之后，步驟S2之前包括：步驟S14，若所述采樣點溫度均未達到要求的采樣溫度時，對所述采樣點實施加熱。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的微弱引力天體巖石驟冷采樣方法，其特征在于，步驟S14中，采用高能激光加熱裝置對采樣點實施加熱。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微弱引力天體巖石驟冷采樣方法，其特征在于，所述驟冷劑為液化惰性氣體。
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