[發明專利]一種無線數據測量的系統、測試架及屏蔽箱

有效

• 申請號: 201410482277.2
• 申請日: 2014-09-19
• 公開（公告）號: CN104301051A
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發明（設計）人: 陳曉林
• 申請（專利權）人: 深圳市江波龍電子有限公司
• 主分類號: H04B17/29
• 分類號: H04B17/29
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種無線數據測量的系統，其特征在于，所述系統包括：

終端設備、分析儀、屏蔽箱、測試架、第一天線以及DUT；

其中，所述第一天線和所述DUT固定于所述測試架中，所述測試架置于所述屏蔽箱內；

所述終端設備分別與所述分析儀以及所述DUT連接通信；

所述分析儀通過所述第一天線與所述DUT連接通信；

所述分析儀，用于通過所述第一天線獲取所述DUT的無線指標數據；

所述終端設備，用于控制所述分析儀發出數據包，經所述第一天線將所述數據包轉發給所述DUT，并通過計算所述DUT接收所述數據包的丟失率以判斷所述DUT的接收靈敏度。

2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述第一天線和所述DUT以疊加放置或者分層放置的方式固定于所述測試架中。

3.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述DUT內設置有第二天線；

所述第一天線和所述DUT固定于所述測試架中具體為：

所述DUT置于所述測試架頂端預設的凹槽中，所述第一天線固定于所述測試架中除凹槽之外的位置，所述DUT內的第二天線位于靠近所述第一天線的位置。

4.如權利要求3所述的系統，其特征在于，所述DUT置于所述測試架頂端預設的凹槽中，所述第一天線固定于所述測試架中除凹槽之外的位置，所述DUT內的第二天線位于靠近所述第一天線的位置具體為：

所述DUT置于所述測試架頂端預設的凹槽中，所述凹槽位于固定于所述測試架中的第一天線的上方，所述DUT內設置有第二天線的區域位置靠近所述DUT與所述凹槽的硬接觸面以靠近所述第一天線。

5.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述終端設備分別與所述分析儀以及所述DUT連接通信具體為：

所述終端設備與所述分析儀通過RJ45線路連接通信；

所述終端設備與所述DUT通過DUT控制接口線路連接通信。

6.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述終端設備具體用于，控制所述分析儀發出N個數據包，經所述第一天線將所述數據包轉發給所述DUT，并計算所述DUT接收所述數據包的丟失率，當所述丟失率大于預設閾值時，判定所述DUT的接收靈敏度較差，當所述丟失率小于或等于所述預設閾值時，判定所述DUT的接收靈敏度較強；

其中，丟失率＝M/N×100％，M為所述DUT丟失的數據包，M為大于或等于0且小于或等于N的整數，N為大于或等于1的整數。

7.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述分析儀具體用于，獲取所述DUT的實際功率值，計算所述第一天線的衰減值，并根據所述衰減值對所述DUT的實際功率值進行校準。

8.如權利要求7所述的系統，其特征在于，所述系統還包括一校準后的樣機，

所述校準后的樣機，用于發射額定功率值，并通過所述第一天線將所述額定功率值轉發到所述分析儀；

所述分析儀，用于顯示接收到的實際功率值；

所述衰減值＝所述額定功率值-所述分析儀顯示的實際功率值。

9.一種測試架，其特征在于，所述測試架包括第一天線和DUT；

所述第一天線和DUT固定于所述測試架中。

10.如權利要求9所述的測試架，其特征在于，所述DUT內設置有第二天線；

所述第一天線和DUT固定于所述測試架中具體為：

所述DUT置于所述測試架頂端預設的凹槽中，所述第一天線固定于所述測試架中除凹槽之外的位置，所述DUT內的第二天線位于靠近所述第一天線的位置。

11.如權利要求10所述的測試架，其特征在于，所述DUT置于所述測試架頂端預設的凹槽中，所述第一天線固定于所述測試架中除凹槽之外的位置，所述DUT內的第二天線位于靠近所述第一天線的位置具體為：

所述DUT置于所述測試架頂端預設的凹槽中，所述凹槽位于固定于所述測試架中的第一天線的上方，所述DUT內設置有第二天線的區域位置靠近所述DUT與所述凹槽的硬接觸面以靠近所述第一天線。

12.一種屏蔽箱，其特征在于，所述屏蔽箱包含如權利要求9至11任一項所述的測試架。