[發明專利]一種用于測量高通量X射線能譜的吸收體陣列

在審

• 申請號: 201410476440.4
• 申請日: 2014-09-17
• 公開（公告）號: CN105425272A
• 公開（公告）日: 2016-03-23
• 發明（設計）人: 陰澤杰;蔣春雨;曹靖;楊青巍
• 申請（專利權）人: 中國科學技術大學
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36;G01T1/40
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251
• 代理人: 成金玉;孟卜娟

1.一種用于測量高通量X射線能譜的吸收體陣列，其特征在于：所述吸收體陣列由一系列圓柱形的不同長度的吸收體構成一個陣列，圓柱形的不同長度的吸收體的軸平行排列；所述不同長度的吸收體的設計原則為等能量間隔衰減原則，即當入射的X射線能量在被測能量范圍內是均勻分布時，經過吸收體陣列衰減后，出射的X射線的能量衰減是等間隔的。

2.根據權利要求1所述的吸收體陣列，其特征在于：當入射的X射線能量在被測能量范圍內是均勻分布時，所述出射的X射線能量分別為入射總能量的100％-x,100％-2x,100％-3x…100％-nx,0<x<1/n，n表示吸收體陣列個數,x表示衰減百分比。