[發(fā)明專利]超聲波診斷裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410475231.8 | 申請日: | 2009-04-14 |
| 公開(公告)號: | CN104274213B | 公開(公告)日: | 2017-05-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 松村剛 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社日立制作所 |
| 主分類號: | A61B8/14 | 分類號: | A61B8/14 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司11021 | 代理人: | 王亞愛 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 超聲波 診斷 裝置 | ||
1.一種超聲波診斷裝置,具備:
具有超聲波收發(fā)面的超聲波探頭;
參考變形體,安裝在所述超聲波探頭的超聲波收發(fā)面;
斷層圖像構(gòu)成部,經(jīng)由所述參考變形體對被檢體收發(fā)超聲波,基于所述被檢體的斷層部位的RF信號幀數(shù)據(jù)生成斷層圖像;和
顯示部,顯示所述斷層圖像,
所述超聲波診斷裝置的特征在于,具備:
存儲部,將所述參考變形體的種類和所述參考變形體的ID的關(guān)系進(jìn)行存儲;
輸入部,輸入所述參考變形體的ID;和
種類確定部,確定與輸入的所述ID相對應(yīng)的所述參考變形體的種類,
將確定的所述參考變形體的種類的信息反映到彈性運(yùn)算,
所述顯示部將所確定的所述參考變形體的種類或所述參考變形體的ID與所述斷層圖像一起顯示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
所述參考變形體的種類包括所述參考變形體的厚度、包括彈性模量的彈性特性、聲學(xué)特性、散射體濃度、所安裝的所述超聲波探頭中的至少一個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
對所述參考變形體或其封裝的至少一個(gè)賦予所述ID。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
具備:
壓力運(yùn)算部,從所述種類確定部中讀取所述參考變形體的種類中的厚度和彈性模量的信息,運(yùn)算對所述參考變形體施加的壓力;
畸變運(yùn)算部,基于所述RF信號幀數(shù)據(jù),運(yùn)算所述斷層部位中的組織的畸變;以及
彈性模量運(yùn)算部,基于所運(yùn)算的壓力及畸變,運(yùn)算所述組織的彈性模量。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
所述壓力運(yùn)算部基于由所述參考變形體的所述厚度及其位移求出的畸變及所述彈性模量,運(yùn)算對所述參考變形體施加的壓力。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
具備彈性圖像構(gòu)成部,該彈性圖像構(gòu)成部基于由所述彈性模量運(yùn)算部所運(yùn)算的所述組織的彈性模量,生成彈性圖像。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
具備對所述斷層圖像中的所述參考變形體的特征量進(jìn)行解析的圖像解析部,
所述存儲部存儲所解析的所述參考變形體的特征量和所述參考變形體的種類之間的關(guān)系,
所述種類確定部從所述存儲部中讀取與重新得到的所述斷層圖像中的所述參考變形體的特征量相對應(yīng)的所述參考變形體的種類,確定所述參考變形體的種類。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
所述特征量是所述斷層圖像的回波亮度的平均值,
所述種類確定部基于重新得到的所述斷層圖像的回波亮度的平均值,確定所述參考變形體的種類。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
所述特征量是所述參考變形體中包括的散射體的回波亮度,
所述種類確定部基于重新得到的所述斷層圖像中的所述散射體的圖案或大小或形狀,確定所述參考變形體的種類。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
所述特征量是所述參考變形體的形狀或所述參考變形體中包括的特征物,
所述種類確定部基于重新得到的所述斷層圖像中的所述參考變形體的形狀或特征物,確定所述參考變形體的種類。
11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
具備圖像處理部,該圖像處理部按照由所述種類確定部所確定的所述參考變形體的厚度,將所述斷層圖像或所述彈性圖像移位至所述超聲波探頭側(cè)。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的超聲波診斷裝置,其特征在于,
具備超聲波收發(fā)控制部,該超聲波收發(fā)控制部按照由所述種類確定部所確定的所述參考變形體的厚度來控制所述超聲波的聚集,以使超聲波不聚集于所述參考變形體。
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