[發明專利]電磁加熱裝置及其檢測鍋具的方法

有效

• 申請號: 201410468959.8
• 申請日: 2014-09-15
• 公開（公告）號: CN104214804B
• 公開（公告）日: 2017-01-25
• 發明（設計）人: 曾燕俠;陳永順
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區美的電熱電器制造有限公司;美的集團股份有限公司
• 主分類號: F24C7/08
• 分類號: F24C7/08;F24C7/00
• 代理公司: 北京友聯知識產權代理事務所(普通合伙)11343
• 代理人: 尚志峰,汪海屏

1.一種用于電磁加熱裝置的檢測鍋具的方法，其特征在于，所述電磁加熱裝置包括諧振電路，連接至所述諧振電路的功率開關，向所述功率開關輸送驅動信號的驅動電路和向所述驅動電路輸送控制信號的控制器，以及用于對所述諧振電路中的諧振線圈中的高頻電流進行采樣的電流采樣電路，所述檢測鍋具的方法，包括：

通過相位比較器對所述控制器輸送至所述驅動電路的控制信號的相位與所述電流采樣電路采樣到的高頻電流信號的相位進行比較，并輸出相位差值；

在所述相位差值小于或等于預定值時，判定檢測到鍋具；以及

在所述相位差值大于所述預定值時，判定未檢測到所述鍋具。

2.根據權利要求1所述的用于電磁加熱裝置的檢測鍋具的方法，其特征在于，還包括：

根據所述控制信號的值，選擇與所述控制信號的值相對應的相位差標準值作為所述預定值。

3.根據權利要求2所述的用于電磁加熱裝置的檢測鍋具的方法，其特征在于，還包括：

在所述電磁加熱裝置上未放置鍋具時，分別記錄所述控制器在輸出多個不同值的所述控制信號時，所述相位比較器輸出對應的多個第一相位差值；

在所述電磁加熱裝置上放置指定尺寸的鍋具時，分別記錄所述控制器在輸出多個不同值的所述控制信號時，所述相位比較器輸出對應的多個第二相位差值；

根據所述第一相位差值和所述第二相位差值，計算與所述控制信號的每個值相對應的所述相位差標準值，所述相位差標準值小于所述第一相位差值且大于所述第二相位差值。

4.根據權利要求3所述的用于電磁加熱裝置的檢測鍋具的方法，其特征在于，所述指定尺寸的鍋具的直徑為50～80mm。

5.根據權利要求3所述的用于電磁加熱裝置的檢測鍋具的方法，其特征在于，計算與所述控制信號的每個值相對應的所述相位差標準值的步驟具體為：

計算與所述控制信號的每個值相對應的所述第一相位差和所述第二相位差的平均值，將所述平均值作為與所述控制信號的每個值相對應的所述相位差標準值。

6.根據權利要求3至5中任一項所述的用于電磁加熱裝置的檢測鍋具的方法，其特征在于，還包括：

根據與所述控制信號的每個值相對應的所述相位差標準值生成所述控制信號的值與所述相位差標準值的關系曲線；

根據所述控制信號的值，選擇與所述控制信號的值相對應的相位差標準值作為所述預定值的步驟具體為：

根據所述控制信號的值，在所述關系曲線上選擇與所述控制信號的值相對應的相位差標準值作為所述預定值。

7.一種電磁加熱裝置，其特征在于，包括：

諧振電路，連接至所述諧振電路的功率開關，向所述功率開關輸送驅動信號的驅動電路和向所述驅動電路輸送控制信號的控制器，以及用于對所述諧振電路中的諧振線圈中的高頻電流進行采樣的電流采樣電路；

相位比較單元，用于通過相位比較器對所述控制器輸送至所述驅動電路的控制信號的相位與所述電流采樣電路采樣到的高頻電流信號的相位進行比較，并輸出相位差值；

判斷單元，用于判斷所述相位差值與預定值之間的關系，并在所述相位差值小于或等于預定值時，判定檢測到鍋具，以及在所述相位差值大于所述預定值時，判定未檢測到所述鍋具。

8.根據權利要求7所述的電磁加熱裝置，其特征在于，還包括：

選擇單元，用于根據所述控制信號的值，選擇與所述控制信號的值相對應的相位差標準值作為所述預定值。

9.根據權利要求8所述的電磁加熱裝置，其特征在于，還包括：

記錄單元，用于在所述電磁加熱裝置上未放置鍋具時，分別記錄所述控制器在輸出多個不同值的所述控制信號時，所述相位比較器輸出對應的多個第一相位差值，并用于在所述電磁加熱裝置上放置指定尺寸的鍋具時，分別記錄所述控制器在輸出多個不同值的所述控制信號時，所述相位比較器輸出對應的多個第二相位差值；

計算單元，用于根據所述第一相位差值和所述第二相位差值，計算與所述控制信號的每個值相對應的所述相位差標準值，所述相位差標準值小于所述第一相位差值且大于所述第二相位差值。

10.根據權利要求9所述的電磁加熱裝置，其特征在于，所述指定尺寸的鍋具的直徑為50～80mm。