[發明專利]一種半導體開關器件導通壓降的測量電路

有效

• 申請號: 201410466345.6
• 申請日: 2014-09-12
• 公開（公告）號: CN104181462B
• 公開（公告）日: 2017-02-01
• 發明（設計）人: 劉慧芳;褚旭;羅穎鵬
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海高等研究院;上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R31/26
• 代理公司: 上海光華專利事務所31219
• 代理人: 李儀萍

1.一種半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于，所述半導體開關器件導通壓降的測量電路至少包括：

電壓輸入模塊、逆變模塊、測試模塊；

所述電壓輸入模塊用于提供輸入電壓；

所述逆變模塊并聯于所述電壓輸入模塊的兩端，包括若干個半導體開關器件及負載，通過控制信號對半導體開關器件的導通使半導體開關器件及負載進入導通壓降的測試狀態；

所述測試模塊連接輸入電壓及所述逆變模塊的輸出電壓，包括采樣單元以及運算單元；所述采樣單元連接所述輸入電壓，根據所述控制信號對輸入電壓進行采樣得到采樣電壓，并輸出至所述運算單元；所述運算單元接收所述采樣單元輸出的采樣電壓及所述逆變模塊的輸出電壓，并將所述采樣單元輸出的采樣電壓及所述逆變模塊的輸出電壓做減法運算，最終輸出所述逆變模塊中測試狀態下的半導體開關器件的導通壓降。

2.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：所述電壓輸入模塊包括輸入電源及整流單元。

3.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：還包括并聯于所述電壓輸入模塊兩端的第一電壓傳感器以及并聯于所述逆變模塊的負載兩端的第二電壓傳感器，所述輸入電壓及所述逆變模塊的輸出電壓通過電壓傳感器測量方式引入所述測試模塊。

4.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：還包括并聯于所述電壓輸入模塊的電解電容。

5.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：所述半導體開關器件為絕緣柵雙極型晶體管。

6.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：所述負載為電感。

7.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：所述逆變模塊為單相全橋形式，包括第一橋臂、第二橋臂、第三橋臂、第四橋臂以及負載。

8.根據權利要求7所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：所述采樣單元包括第一模擬開關、第二模擬開關、第一與門以及第二與門；所述第一與門的輸入端連接于所述第一橋臂及所述第四橋臂的控制端，當所述第一橋臂及所述第四橋臂同時導通時，所述第一與門控制所述第一模擬開關閉合；所述第二與門的輸入端連接于所述第二橋臂及所述第三橋臂的控制端，當所述第二橋臂及所述第三橋臂同時導通時，所述第二與門控制所述第二模擬開關閉合。

9.根據權利要求8所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：所述運算單元為模擬加法器，所述第一模擬開關連接于所述模擬加法器的正向端，所述第二模擬開關連接于所述模擬加法器的反向端。

10.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：還包括產生所述控制信號的控制信號產生模塊。

11.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：還包括連接于所述測試模塊輸出端的放大器以及連接于所述放大器的模數轉換器，用于對所述運算電路輸出的導通壓降進行處理后供下級電路使用。

12.根據權利要求1所述的半導體開關器件導通壓降的測量電路，其特征在于：還包括連接于所述測試模塊輸出端的示波器，用于觀察所述運算電路輸出的導通壓降。