[發明專利]基于暗場檢測的光纖宏彎耦合結構液位探頭有效
| 申請號： | 201410462212.1 | 申請日： | 2014-09-06 |
| 公開（公告）號： | CN104198014B | 公開（公告）日： | 2017-08-25 |
| 發明（設計）人： | 劉文怡;侯鈺龍;蘇珊;張會新;劉俊;熊繼軍;甄成方;張迦衛 | 申請（專利權）人： | 中北大學 |
| 主分類號： | G01F23/292 | 分類號： | G01F23/292 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 030051*** | 國省代碼： | 山西;14 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 暗場 檢測 光纖 耦合 結構 探頭 | ||
【權利要求書】：
1.基于暗場檢測的光纖宏彎耦合結構液位探頭，其特征在于，包括
有源光纖，包括P0端，用于連接LED光源；P1端，用于連接光功率計；
無源光纖，包括P2端，用于連接光功率計；P3端用于連接光功率計；
耐高溫導線，用于固定光纖以減少錯位引起的耦合功率變化，減少誤差；
所述有源光纖和無源光纖相互纏繞后整體彎曲形成雙絞宏彎耦合環，所述耐高溫導線緊密纏繞在所述宏彎耦合環上，所述有源光纖、無源光纖和耐高溫導線通過塑膠管后，使用固定套灌注硅膠后固定，減輕了光纖受到外力應力變化引起不必要的誤差。
2.根據權利要求1所述的基于暗場檢測的光纖宏彎耦合結構液位探頭，其特征在于，所述LED光源用于為整個液位探頭提供光源能量。
3.根據權利要求1所述的基于暗場檢測的光纖宏彎耦合結構液位探頭，其特征在于，所述P1端是直通端，作為參考端口，P2端可參考P1端的功率變化，排除光源功率變化的影響。
4.根據權利要求1所述的基于暗場檢測的光纖宏彎耦合結構液位探頭，其特征在于，所述P2端是正向耦合端，用于探測暗場信號實現液位檢測。
5.根據權利要求1所述的基于暗場檢測的光纖宏彎耦合結構液位探頭，其特征在于，所述P3端是反向耦合端。
6.根據權利要求1所述的基于暗場檢測的光纖宏彎耦合結構液位探頭，其特征在于，所述有源光纖和無源光纖均采用包層薄，柔韌性好的塑料光纖。
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