[發明專利]一種雙彈同測的測試單元適配器接口及其設計方法

有效

• 申請號: 201410461952.3
• 申請日: 2014-09-06
• 公開（公告）號: CN104215135A
• 公開（公告）日: 2014-12-17
• 發明（設計）人: 劉曉東;許永輝;姜守達
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: F42B35/00
• 分類號: F42B35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種雙彈同測的測試單元適配器接口及其設計方法。

背景技術

測試單元適配器用于自動測試設備中，實現信號調理與分配轉接的功能，它是連接被測對象和測試控制儀器的橋梁。供電電源通過測試單元適配器內部的供電開關實現對被測對象程控供電，測控設備的控制或激勵信號經過測試單元適配器送往被測對象，由測試電纜傳送下來的被測信號在測試單元適配器內經信號調理分配后送往各測試儀器。

目前，公知的測試單元適配器一次只能測試一個制導炸彈。當需要測試N個制導炸彈時，測試完成需要的總時間，就是測試一個制導炸彈所需時間的N倍，自動測試設備的測試效率就顯得較低。另外，公知的測試單元適配器只有一組測試接口，當一組測試接口中的任意一個接口損壞時，整個測試單元適配器就需要維修或更換，自動測試設備的可靠性較低。

發明內容

為了克服現有的測試單元適配器不能同時測試兩個制導炸彈的不足，本發明提供一種雙彈同測的測試單元適配器接口及其設計方法，具有兩套測試接口，兩套測試接口互為冗余，利用該測試單元適配器可以同時測試兩個同型號的制導炸彈。采用雙彈同測的方式，總的測試時間幾乎可以減半，提高了自動測試設備的效率。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種雙彈同測的測試單元適配器接口設計方法，包括GJB1188A接口A、綜合測試接口A、GJB1188A接口B和綜合測試接口B，

1)GJB1188A接口A通過第一和第二3子端耦合器的2端連接到1553B模塊上，GJB1188A接口B通過第一和第二3子端耦合器的3端連接到1553B模塊上，分別實現GJB1188A接口A和GJB1188A接口B的1553B總線信號通訊功能；

2)在GJB1188A接口A和GJB1188A接口B上，通過與第一信號調理板連接，把64路控制繼電器模塊上的1-16號繼電器分配給GJB1188A接口A，把64路控制繼電器模塊上的17-32號繼電器分配給GJB1188A接口B，分別實現GJB1188A接口A和GJB1188A接口B上的RT地址、連鎖和投放允許的功能；

3)在GJB1188A接口A和GJB1188A接口B上，通過與電源控制板連接，將6路程控電源的1-3路分配給GJB1188A接口A，將6路程控電源的4-6路分配給GJB1188A接口B，分別實現兩組接口上的供電控制功能；

4)在GJB1188A接口A和GJB1188A接口B上，通過視頻轉換卡，將第1路視頻信號分配給GJB1188A接口A，將第2路分配給GJB1188A接口B，分別實現電視信號到VGA信號的轉換功能；

5)在綜合測試接口A和綜合測試接口B上，通過與第一信號調理板1連接，把64路I/O模塊的1-32路分配給綜合測試接口A，把64路I/O模塊的33-64路分配給綜合測試接口B，實現狀態信號的測量功能；

6)在綜合測試接口A和綜合測試接口B上，通過與第一信號調理板連接，把8路通訊模塊的1-4路分配給綜合測試接口A，把8路通訊模塊的5-8路分配給綜合測試接口B，實現RS233/RS485/RS422通訊功能；

7)在綜合測試接口A和綜合測試接口B上，通過與第一信號調理板連接，把4路通用計數器模塊的1-2路分配給綜合測試接口A，把4路通用計數器模塊的3-4路分配給綜合測試接口B，實現頻率、周期和脈沖寬度測量功能；

8)在綜合測試接口A和綜合測試接口B上，通過與第二信號調理板連接，把64路模擬I/O模塊的1-32路分配給綜合測試接口A，把64路模擬I/O模塊的33-64路分配給綜合測試接口B，實現模擬信號的測量和提供激勵信號的功能；

9)在綜合測試接口A和綜合測試接口B上，通過與第一信號調理板連接，把64路掃描開關模塊的1-32路分配給綜合測試接口A，把64路掃描開關模塊的33-64路分配給綜合測試接口B，實現電壓和電阻測量的功能。

本發明還具有如下技術特征：按如上方法的一種雙彈同測的測試單元適配器接口。

本發明的有益效果是：使用該測試單元適配器可以同時測試兩個制導炸彈，大大地減少了總的測試時間，提高了測試效率。兩組接口互為冗余設計，每組接口都可以單獨測試一個制導炸彈，當一組接口發生故障時，用另一組測試接口仍然可以對單個彈進行測試，提高了自動測試設備的可靠性。例如，單獨測試一個制導炸彈的時間為10分鐘，則同時測試兩個制導炸彈的時間為11分鐘。

附圖說明

圖1是測試單元適配器的前面板圖。

圖2是測試單元適配器的后面板圖。