[發(fā)明專利]顯示面板測試裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410459271.3
• 申請日: 2014-09-10
• 公開（公告）號(hào): CN104217668B
• 公開（公告）日: 2017-08-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王振嶺;黃泰鈞
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙)44300
• 代理人: 黃威

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及顯示面板測試領(lǐng)域，特別涉及一種顯示面板測試裝置及方法。

【背景技術(shù)】

傳統(tǒng)的對(duì)顯示面板的進(jìn)行測試的技術(shù)方案一般為：

將測試信號(hào)提供給顯示面板，顯示面板在接收到測試信號(hào)后顯示與該測試信號(hào)對(duì)應(yīng)的畫面。

然而，在對(duì)顯示面板進(jìn)行測試的過程中，往往需要對(duì)顯示面板進(jìn)行開機(jī)和關(guān)機(jī)操作。

在實(shí)踐中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題：

顯示面板開機(jī)時(shí)會(huì)顯示上次關(guān)機(jī)時(shí)的殘影。

此外，在對(duì)AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管面板)進(jìn)行測試的過程中，所述AMOLED的驅(qū)動(dòng)開關(guān)電路(例如，驅(qū)動(dòng)晶體管)會(huì)由于老化而使得開關(guān)電壓閾值(Vth)發(fā)生偏移。

故，有必要提出一種新的技術(shù)方案，以解決上述技術(shù)問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板測試裝置及方法，其能使得待測試顯示面板在開機(jī)時(shí)不會(huì)出現(xiàn)殘影。

為解決上述問題，本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種顯示面板測試裝置，所述顯示面板測試裝置包括：接口電路，用于與待測試顯示面板連接；測試電路，與所述接口電路連接，所述測試電路用于在所述待測試顯示面板處于測試狀態(tài)時(shí)生成測試信號(hào)，并通過所述接口電路向所述待測試顯示面板提供所述測試信號(hào)，以及用于在所述待測試顯示面板處于預(yù)定狀態(tài)時(shí)生成調(diào)整信號(hào)，并通過所述接口電路向所述待測試顯示面板提供所述調(diào)整信號(hào)；其中，所述調(diào)整信號(hào)用于在所述待測試顯示面板處于所述預(yù)定狀態(tài)時(shí)清理所述待測試顯示面板保留的至少部分殘影信號(hào)；所述測試電路包括：測試信號(hào)生成電路，用于生成所述測試信號(hào)；調(diào)整信號(hào)生成電路，用于生成所述調(diào)整信號(hào)；選擇電路，用于接收所述測試信號(hào)和所述調(diào)整信號(hào)，并用于在所述待測試顯示面板處于所述測試狀態(tài)時(shí)輸出所述測試信號(hào)，以及用于在所述待測試顯示面板處于所述預(yù)定狀態(tài)時(shí)輸出所述調(diào)整信號(hào)；所述選擇電路包括：第一開關(guān)，所述第一開關(guān)包括：第一輸入端，用于接收所述測試信號(hào)；第一輸出端，用于在所述第一輸入端和所述第一輸出端之間的第一電流通道開啟時(shí)輸出所述測試信號(hào)；第一控制端，用于接收第一控制信號(hào)，并根據(jù)所述第一控制信號(hào)控制所述第一電流通道的開啟或關(guān)閉；第二開關(guān)，所述第二開關(guān)包括：第二輸入端，用于接收所述調(diào)整信號(hào)；第二輸出端，用于在所述第二輸入端和所述第二輸出端之間的第二電流通道開啟時(shí)輸出所述調(diào)整信號(hào)；第二控制端，用于接收第二控制信號(hào)，并根據(jù)所述第二控制信號(hào)控制所述第二電流通道的開啟或關(guān)閉；控制電路，與所述第一控制端和所述第二控制端連接，所述控制電路用于生成所述第一控制信號(hào)和所述第二控制信號(hào)。

在上述顯示面板測試裝置中，在所述待測試顯示面板處于所述測試狀態(tài)時(shí)，所述第一控制端用于根據(jù)所述第一控制信號(hào)控制所述第一電流通道開啟，所述第二控制端用于根據(jù)所述第二控制信號(hào)控制所述第二電流通道關(guān)閉；在所述待測試顯示面板處于所述預(yù)定狀態(tài)時(shí)，所述第一控制端用于根據(jù)所述第一控制信號(hào)控制所述第一電流通道關(guān)閉，所述第二控制端用于根據(jù)所述第二控制信號(hào)控制所述第二電流通道開啟。

在上述顯示面板測試裝置中，所述調(diào)整信號(hào)包括：至少一開啟信號(hào)，所述開啟信號(hào)用于開啟所述待測試顯示面板的薄膜晶體管開關(guān)；至少一清理信號(hào)，所述清理信號(hào)用于在所述薄膜晶體管開關(guān)處于開啟狀態(tài)時(shí)寫入到所述待測試顯示面板的像素電極中，以清理所述待測試顯示面板保留的至少部分所述殘影信號(hào)。

在上述顯示面板測試裝置中，所述開啟信號(hào)為高電平信號(hào)，所述清理信號(hào)為低電平信號(hào)；所述測試電路還用于將所述開啟信號(hào)通過所述待測試顯示面板的掃描線輸入至所述薄膜晶體管開關(guān)的柵極，以及用于將所述清理信號(hào)通過所述待測試顯示面板的數(shù)據(jù)線和所述薄膜晶體管開關(guān)輸入至所述像素電極。

在上述顯示面板測試裝置中，所述待測試顯示面板為有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管面板，所述測試電路還用于在所述有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管面板處于所述預(yù)定狀態(tài)時(shí)向所述有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管面板發(fā)送一抑制信號(hào)，所述抑制信號(hào)用于提供給所述有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管面板的驅(qū)動(dòng)開關(guān)電路，以抑制所述驅(qū)動(dòng)開關(guān)電路的開關(guān)電壓閾值偏移。