[發明專利]一種絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統

在審

• 申請號: 201410458865.2
• 申請日: 2014-09-10
• 公開（公告）號: CN104166055A
• 公開（公告）日: 2014-11-26
• 發明（設計）人: 張偉政;李智敏;季國劍;穆海寶;李元;申文偉;鄧軍波;張冠軍
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;國網河南省電力公司鄭州供電公司;西安交通大學
• 主分類號: G01R29/24
• 分類號: G01R29/24;G01R31/12
• 代理公司: 鄭州聯科專利事務所(普通合伙) 41104
• 代理人: 劉建芳;李伊寧

1.一種絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：包括內部設置有二維電控位移臺的密閉腔體，二維電控位移臺的控制數據線與密閉腔體外的二維電控位移臺控制箱連接，二維電控位移臺控制箱與計算機連接，豎直設置的背板電極的一側表面固定在二維電控位移臺上，待測試品豎直固定在背板電極的另一側表面，待測試品的上下兩端分別連接高壓電極和接地電極；密閉腔體的一側設置有兩個延伸腔體，第一延伸腔體末端外部密封設置有一維磁耦合直線旋轉驅動器，位于密閉腔體內的一維磁耦合直線旋轉驅動器的運動端設置有絕緣夾具，Kelvin探頭固定在絕緣夾具上，Kelvin探頭的探測點垂直于待測試品，Kelvin探頭的輸出信號引線通過設置在第二延伸腔體末端的探頭輸出信號引線法蘭與密閉腔體外部的靜電電位計連接，靜電電位計的信號輸出端連接計算機的數據采集系統，密閉腔體的另一側設置有連接管，連接管的末端設置有真空泵。

2.根據權利要求1所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的密閉腔體上設置有微動進氣閥和壓力表，連接管上設置有真空規管。

3.根據權利要求2所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的二維電控位移臺由橫軸X和縱軸Y兩個電控位移臺組成。

4.根據權利要求3所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的密閉腔體采用不銹鋼密閉腔體。

5.根據權利要求4所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的待測試品的電極結構為平面型銅電極，銅電極厚度為0.2mm，采用導電雙面膠貼合在被測試品表面。

6.根據權利要求5所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的數據采集系統包括信號調理模塊和數據采集卡，數據采集卡采用NI?PCI-6220，信號調理部分實現靜電電位計輸出信號的1/2分壓，分壓后的信號輸入數據采集卡進行采集，數據采集后的電位信號存儲至與掃描點位置對應的矩陣內。

7.根據權利要求6所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的二維電控位移臺的控制數據線通過真空航空電源插頭與密閉腔體外的二維電控位移臺控制箱連接。

8.根據權利要求7所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的Kelvin探頭與待測試品表面的距離通過一維磁耦合直線旋轉驅動器在0mm-170mm范圍精確調節。

9.根據權利要求8所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的高壓電極連接高壓電源，高壓電源輸出電壓為0-100kV的直流、交流或沖擊電壓。

10.根據權利要求9所述的絕緣材料表面電荷二維分布自動測量系統，其特征在于：所述的Kelvin探頭采用3455ET探頭，靜電電位計采用TREK-341B靜電電位計。