[發(fā)明專利]多規(guī)格自動(dòng)進(jìn)片調(diào)節(jié)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410458023.7 | 申請(qǐng)日： | 2014-09-10 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN104237264B | 公開(kāi)（公告）日： | 2017-01-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 高建民;王昭;肖玉林;黨長(zhǎng)營(yíng);胡貴強(qiáng) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 西安交通大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N23/04 | 分類號(hào)： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司61200 | 代理人： | 徐文權(quán) |
| 地址： | 710049 陜*** | 國(guó)省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 規(guī)格 自動(dòng) 調(diào)節(jié) 裝置 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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