[發明專利]空氣污染物源解析采樣系統及方法

有效

• 申請號: 201410457675.9
• 申請日: 2014-09-10
• 公開（公告）號: CN104237465A
• 公開（公告）日: 2014-12-24
• 發明（設計）人: 李振;孫作福;陳光成;陳永坤;王守義;梁正
• 申請（專利權）人: 青島海納光電環保有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00;G01N1/24
• 代理公司: 山東清泰律師事務所 37222
• 代理人: 柳彥君

1.空氣污染物源解析采樣系統，其特征在于：包括主機箱、顆料物切割補集裝置、煙氣預處理器、地面沉降顆物取樣裝置、三角支架、連接管，主機箱設置流量控制器，其中：

顆粒物切割捕集裝置，包括切割頭、濾膜夾、固定裝置，所述固定裝置包括切割補集架，所述切割補集架由上板、中板、下板、四條垂直滑軌固定拼接而成，所述四條滑軌的上、下端分別固定連接于上板、下板的四角處，中板與切割補集架一側兩條滑軌滑動連接；上板與中板之間設置濾膜夾支撐座，包括與上板固定連接的上支撐座和與下板固定連接的下支撐座；所述濾膜夾設置于濾膜夾支撐座內；切割頭通過吊管與固定裝置中的濾膜夾連通；濾膜夾支撐座上設置與濾膜夾連通的抽氣嘴；所述切割補集架還設置有連接上板與中板的工具扣，工具扣下端與中板固定連接，上端與上板可拆卸連接；

煙氣預處理器，包括煙氣管路與煙氣處理室，所述煙氣管路包括一殼體，殼體前端設置進氣嘴，殼體內設置有過濾筒、鈦管，鈦管外纏繞加熱帶；鈦管連通過濾筒與煙氣處理室；所述煙氣處理室內設置制冷氣室，制冷氣室上方設置溫度傳導塊與半導體制冷塊；制冷氣室側壁與鈦管連通；所述半導體制冷塊上方設置散熱裝置；制冷氣室后方設置出氣嘴；

地面沉降顆粒物取樣裝置，包括機架，所述機架板兩端分別與萬向輪活動連接；機架中間設置一凹槽，所述凹槽內開設有取樣孔，取樣孔上方設置開放源抽氣嘴，開放源抽氣嘴上端設置機架板，將開放源抽氣嘴固定于機架的凹槽內；機架板上固定設置有連接支架，連接支架另一端與伸縮桿固定連接；所述機架的凹槽兩端還設置有毛簇，所述毛簇上端與機架固定連接，下端伸出機架之外。

2.根據權利要求1所述的空氣污染物源解析采樣系統，其特征在于：所述顆粒物切割捕集裝置的切割頭進氣口處設置狀態測試器，所述狀態測試器設置壓力、溫度傳感器。

3.根據權利要求1所述的空氣污染物源解析采樣系統，其特征在于：所述顆粒物切割捕集裝置的切割補集架下板設置有快速接頭。

4.根據權利要求1或2或3的空氣污染物源解析采樣系統進行空氣污染物源解析采樣方法，其特征在于：包括以下步驟：

A：確定采樣環境，包括：呼吸環境空氣采樣、污染源處空氣采樣、地面降塵空氣采樣；

B：如確定為對呼吸環境空氣采樣，按如下方法進行：

將三角架上方連接至顆粒物切割捕集裝置的切割補集架下板快速接頭，調整三角腳架使切割頭至所需采樣高度；將顆粒物切割捕集裝置的抽氣嘴通過連接管連接至主機箱的流量控制器；從主機箱中設置采樣溫度、壓力下的進氣流量值，啟動采樣開關進行采樣；

C:?如確定為對污染源處空氣采樣，按如下方法進行：

將煙氣預處理器的進氣嘴與污染源排氣管路連接；煙氣預處理器的出氣嘴連接顆粒物切割捕集裝置切割頭的進氣口，并在進氣口設置狀態測試器，并將狀態測試器的溫度傳感器與壓力傳感器分別通過信號線與主機箱連接；將顆粒物切割捕集裝置的抽氣嘴通過連接管連接至主機箱的流量控制器；從主機箱中設置采樣溫度、壓力下的進氣流量值，啟動采樣開關進行采樣；主機箱檢測從污染源處采集的溫度、壓力信號，根據與設置值的偏差對進氣流量進行調整；

D:?如確定為對地面降塵空氣采樣，按如下方法進行：

將地面沉降顆粒物取樣裝置的開放源抽氣嘴通過連接管連接顆粒物切割捕集裝置切割頭的進氣口，并在進氣口設置狀態測試器，并將狀態測試器的溫度傳感器與壓力傳感器分別通過信號線與主機箱連接；將顆粒物切割捕集裝置的抽氣嘴通過連接管連接至主機箱的流量控制器；從主機箱中設置采樣溫度、壓力下的進氣流量值，啟動采樣開關進行采樣；采樣時，推動伸縮桿沿地面滑行，在整個取樣裝置滑動的過程中，毛簇把地面顆粒物擾動起來，顆粒物進開放源抽氣嘴3中，并進入采樣管路；主機箱檢測從污染源處采集的溫度、壓力信號，根據與設置值的偏差對進氣流量進行調整。