[發明專利]共底夾層構件脫粘缺陷檢測的超聲回波測量方法

有效

• 申請號: 201410455817.8
• 申請日: 2014-09-09
• 公開（公告）號: CN104198583B
• 公開（公告）日: 2016-11-23
• 發明（設計）人: 陳昆昆;張延松;南博華;王閃帥;李淑慧
• 申請（專利權）人: 上海交通大學;上海航天設備制造總廠
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 趙繼明

1.一種共底夾層構件脫粘缺陷檢測的超聲回波測量方法，所述的共底夾層構件包括兩層金屬板、設在兩層金屬板間的泡沫以及設在金屬板與泡沫之間的膠層，其特征在于，所述的測量方法包括以下步驟：

1)利用超聲波探頭對典型位置按設定路徑進行多次超聲掃描檢測，建立不同類型脫粘缺陷的有效回波個數和超聲波探頭距脫粘缺陷邊界距離關系的數據庫，所述的典型位置包括無脫粘缺陷位置、金屬板與膠層脫粘缺陷位置和膠層與泡沫脫粘缺陷位置；

2)對待測共底夾層構件的金屬板表面進行整體超聲掃描檢測，根據檢測得到的有效回波個數與所述數據庫的對比結果，確定脫粘缺陷類型和超聲波探頭距脫粘缺陷邊界距離。

2.根據權利要求1所述的一種共底夾層構件脫粘缺陷檢測的超聲回波測量方法，其特征在于，進行超聲掃描檢測前，將耦合劑涂于共底夾層構件表面。

3.根據權利要求2所述的一種共底夾層構件脫粘缺陷檢測的超聲回波測量方法，其特征在于，所述的耦合劑包括甘油或水。

4.根據權利要求1所述的一種共底夾層構件脫粘缺陷檢測的超聲回波測量方法，其特征在于，還包括：

根據檢測得到的超聲波探頭距脫粘缺陷邊界距離計算脫粘缺陷面積，在脫粘缺陷邊界部位，超聲波探頭所對應的脫粘缺陷面積不同，回波中有效回波個數不同；并判斷脫粘缺陷面積大小是否滿足共底夾層構件的制造要求。

5.根據權利要求1所述的一種共底夾層構件脫粘缺陷檢測的超聲回波測量方法，其特征在于，所述的超聲波探頭貼設在待測共底夾層構件的金屬板上。

6.根據權利要求1所述的一種共底夾層構件脫粘缺陷檢測的超聲回波測量方法，其特征在于，所述的超聲波探頭的頻率為5-30Mhz，直徑為1-30毫米。