[發明專利]一種實現太陽磁場望遠鏡透過輪廓的在軌調試系統及方法

有效

• 申請號: 201410455760.1
• 申請日: 2014-09-09
• 公開（公告）號: CN104180973A
• 公開（公告）日: 2014-12-03
• 發明（設計）人: 孫英姿;王東光
• 申請（專利權）人: 中國科學院國家天文臺
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111
• 代理人: 張金芝;楊穎

1.一種實現太陽磁場望遠鏡透過輪廓的在軌調試系統，其特征在于，包括：由望遠系統、偏振分析器、濾光器依次連接組成的待測太陽磁場望遠鏡，以及由透鏡組、光柵光譜儀、光電倍增管依次同軸排列設置的譜線輪廓調試系統，其中，在所述濾光器的輸出端和透鏡組的輸入端之間連接有光纖束，所述濾光器包括至少一個晶體級，分別調整所述濾光器中的各晶體級方位，使得從待測太陽磁場望遠鏡中輸出的光源經所述光纖束引光并依次通過所述透鏡組成像、光柵光譜儀輪廓掃描以及光電倍增管的信號放大后輸出的光譜線輪廓圖在計算機中予以顯示。

2.如權利要求1所述的一種實現太陽磁場望遠鏡透過輪廓的在軌調試系統，其特征在于，還包括有半導體激光器，所述半導體激光器連接至所述光纖束的輸入端，用于譜線輪廓調試系統的光路調整。

3.如權利要求2所述的一種實現太陽磁場望遠鏡的透過輪廓的在軌調試系統，其特征在于，所述濾光器包括八個晶體級，各晶體級內設可旋轉的用于改變入射光相位差的波片。

4.如權利要求3所述的一種實現太陽磁場望遠鏡的透過輪廓的在軌調試系統，其特征在于，所述透鏡組由至少兩片凸透鏡組成。

5.一種根據前述權利要求1至4中任意一項所述的在軌調試系統的調試方法，其特征在于，包括如下步驟：

將光纖束的兩端分別連接到待測太陽磁場望遠鏡中的濾光器的輸出端及譜線輪廓調試系統中的透鏡組的輸入端；

調整譜線輪廓調試系統中的光柵光譜儀的透過波長，使其與待測太陽磁場望遠鏡的觀測波長相同；

分別調整位于待測太陽磁場望遠鏡中的濾光器中的各晶體級方位，使其輸出光強值為最大；

從待測太陽磁場望遠鏡中輸出的光源經所述光纖束引光并通過譜線輪廓調試系統中的光柵光譜儀掃描及光電倍增管的放大后輸出得到觀測模式下的光譜輪廓圖。

6.如權利要求5所述的調試方法，其特征在于，在將光纖束連接于光柵光譜儀與透鏡組之間之前，先外接激光器作為調整光路的輔助光源，將光纖束輸入端連接到激光器，另一端連接到透鏡組，調整透鏡組內各個凸透鏡的位置使得光束入射到光柵光譜儀狹縫中，光束焦比為1/4。

7.如權利要求6所述的調試方法，其特征在于，所述濾光器包括八個晶體級，各晶體級可由電機控制其旋轉角度，依次令每個晶體級內部的波片在垂直于光路的平面內旋轉，觀察輸出光強，當輸出光強值在設定波長上最大時停止旋轉。

8.如權利要求7所述的調試方法，其特征在于，從晶體級透過帶寬最大的晶體級開始旋轉，依次重復調整，在調整完各個晶體級后，標定每個晶體級的位置。

9.如權利要求8所述的調試方法，其特征在于，在獲得輸出光譜輪廓圖后，在按照同比例同時旋轉待測太陽磁場望遠鏡濾光器中的各晶體級，觀測濾光器透過輪廓的整體移動的譜線圖。

10.如權利要求6-9任一所述的調試方法，其特征在于，所述調試在避光環境中進行。