[發(fā)明專利]一種RFID標(biāo)簽卷繞檢測(cè)分切設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410455323.X | 申請(qǐng)日： | 2014-09-09 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN104210889B | 公開（公告）日： | 2017-01-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳建魁;尹周平;溫雯;湯朋朋;王冠;葉曉濱 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | B65H43/04 | 分類號(hào)： | B65H43/04;B65H35/02;B65H23/032;B65H59/38 |
| 代理公司： | 華中科技大學(xué)專利中心42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 國(guó)省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 rfid 標(biāo)簽 卷繞 檢測(cè) 設(shè)備 | ||
【說(shuō)明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華中科技大學(xué)，未經(jīng)華中科技大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410455323.X/2.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 瀏覽器中關(guān)閉標(biāo)簽的裝置和方法
- 標(biāo)簽生成方法及標(biāo)簽生成裝置
- 一種帶有標(biāo)簽的電氣插座
- 標(biāo)簽檢測(cè)定位裝置及其標(biāo)簽制造設(shè)備
- 標(biāo)簽切割裝置及其標(biāo)簽加工機(jī)
- 基于樹形結(jié)構(gòu)的標(biāo)簽存儲(chǔ)方法及裝置
- 一種標(biāo)簽分離機(jī)構(gòu)
- 標(biāo)簽切割裝置及其標(biāo)簽加工機(jī)
- 標(biāo)簽檢測(cè)定位裝置及其標(biāo)簽制造設(shè)備
- 標(biāo)簽轉(zhuǎn)換處理方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
