[發(fā)明專利]基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410455234.5 | 申請(qǐng)日: | 2014-09-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104241434A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-12-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅俊;別業(yè)華;李維軍;張新宇;佟慶;雷宇;桑紅石;張?zhí)煨?/a>;謝長(zhǎng)生 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L31/108 | 分類號(hào): | H01L31/108;H01L31/18 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 42201 | 代理人: | 朱仁玲 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 材料 赫茲 信號(hào) 探測(cè)器 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于信號(hào)探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器及其制備方法。
背景技術(shù)
太赫茲探測(cè)在機(jī)場(chǎng)安檢系統(tǒng)、通信、電子對(duì)抗和無(wú)損檢測(cè)等眾多領(lǐng)域都有著廣泛地應(yīng)用,常見(jiàn)的太赫茲探測(cè)器主要包括熱探測(cè)器、肖特基二極管探測(cè)器。
在要求高速、高靈敏度、多譜信號(hào)探測(cè)的場(chǎng)合下,現(xiàn)有太赫茲探測(cè)器存在以下方面的問(wèn)題:1、太赫茲探測(cè)器的譜成像裝置仍需配置復(fù)雜的驅(qū)動(dòng)或掃描機(jī)構(gòu),體積和質(zhì)量大;2、太赫茲探測(cè)器響應(yīng)速度較慢;3、太赫茲探測(cè)器的光譜探測(cè)范圍不能輕易擴(kuò)展。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求,本發(fā)明提供了一種基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器及其制備方法,其目的在于,解決現(xiàn)有太赫茲信號(hào)探測(cè)器中存在的體積大、響應(yīng)慢、光譜探測(cè)范圍不能輕易擴(kuò)展的技術(shù)問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,按照本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器,包括襯底層、N型砷化鎵層、二氧化硅層、超材料層、歐姆電極和一對(duì)肖特基電極,N型砷化鎵層設(shè)置于襯底層上面,二氧化硅層設(shè)置于N型砷化鎵層上面,超材料層設(shè)置于N型砷化鎵層上面,歐姆電極設(shè)置于N型砷化鎵層上面,肖特基電極設(shè)置于二氧化硅層上面,歐姆電極和一對(duì)肖特基電極分別設(shè)置于超材料層的左右兩端,超材料層為具有周期性微納米結(jié)構(gòu)的金屬層,超材料層包括一個(gè)金屬開(kāi)環(huán)共振單元陣列,每個(gè)金屬開(kāi)環(huán)共振單元的開(kāi)孔間距t=2~8μm,線寬d=4~14μm,周期L=36~100μm。
優(yōu)選地,襯底層為半絕緣砷化鎵、硅、或三氧化二鋁。
優(yōu)選地,歐姆電極的材料為鎳、鍺、和金,其厚度分別為20-30nm、200-300nm和20-30nm。
優(yōu)選地,肖特基電極的材料為鈦和金,其厚度分別為20-30nm和200-250nm。
優(yōu)選地,超材料層由周期性微納金屬結(jié)構(gòu)構(gòu)成,并與N型砷化鎵層形成肖特基接觸。
優(yōu)選地,當(dāng)超材料層用于電磁信號(hào)探測(cè)時(shí),其采用的周期性微納米結(jié)構(gòu)的周期遠(yuǎn)小于對(duì)應(yīng)信號(hào)的波長(zhǎng)。
優(yōu)選地,金屬開(kāi)環(huán)共振單元的材料為鈦和金,其厚度分別為20~30nm和200~250nm。
按照本發(fā)明的另一方面,提供了一種基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器的制備方法,包括如下步驟:
(1)在襯底層上通過(guò)金屬有機(jī)化合物化學(xué)氣相淀積法注入Si離子,摻雜濃度為1×1016cm-3~9×1018cm-3,由此形成N型砷化鎵層;
(2)在N型砷化鎵層上通過(guò)等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相淀積法制備二氧化硅層;
(3)在二氧化硅層上通過(guò)正膠工藝光刻歐姆電極接觸孔,并使用濕法腐蝕對(duì)歐姆電極接觸孔進(jìn)行腐蝕處理,通過(guò)負(fù)膠工藝光刻歐姆電極,采用電子束蒸發(fā)的方式依次蒸發(fā)堆疊在一起的Ni/Ge/Au層,將Ni/Ge/Au層進(jìn)行剝離,從而形成具有Ni/Ge/Au層的歐姆電極,對(duì)具有該Ni/Ge/Au層的歐姆電極退火,以形成歐姆電極;
(4)在二氧化硅層上先通過(guò)正膠工藝光刻肖特基接觸孔,并使用濕法腐蝕對(duì)肖特基接觸孔進(jìn)行腐蝕處理,以腐蝕二氧化硅層,通過(guò)負(fù)膠工藝光刻肖特基電極,采用電子束蒸發(fā)的方式依次蒸發(fā)堆疊在一起的Ni/Au層,將Ni/Au層進(jìn)行剝離,從而分別形成具有Ni/Au層的超材料層和肖特基電極,其中超材料層直接與N型砷化鎵層接觸,肖特基電極位于二氧化硅層上,且肖特基電極和超材料層之間的距離為1mm~1.5mm。
總體而言,通過(guò)本發(fā)明所構(gòu)思的以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比,能夠取得下列有益效果:
1、本發(fā)明基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器體積小:由于所述超材料的制作采用微納米光刻工藝,在1mm2尺寸內(nèi)可以集成數(shù)千個(gè)金屬開(kāi)環(huán)共振單元,因此基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器體積很小、重量很輕;
2、本發(fā)明基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器響應(yīng)速度較快:由于超材料層的金屬開(kāi)環(huán)共振單元具有完全吸收對(duì)應(yīng)波段電磁信號(hào)的能力,一旦與對(duì)應(yīng)太赫茲波段信號(hào)產(chǎn)生共振,其共振響應(yīng)速度屬于超高速響應(yīng),能夠在極短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生響應(yīng)信號(hào)。
3、本發(fā)明基于超材料的太赫茲單譜信號(hào)探測(cè)器只需要交流信號(hào)發(fā)生器等少量電子資源輔助其進(jìn)行工作,從而節(jié)省了外圍電路資源。
4、本發(fā)明可以通過(guò)修改金屬開(kāi)環(huán)共振單元的圖形參數(shù),改變金屬開(kāi)環(huán)共振單元的共振頻率,因此提供了一種可根據(jù)實(shí)際需要改變信號(hào)探測(cè)波長(zhǎng)的能力。
附圖說(shuō)明
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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