[發(fā)明專利]一種磁卡解碼芯片的自動化測試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410448764.7
• 申請日: 2014-09-04
• 公開（公告）號: CN104198917B
• 公開（公告）日: 2017-04-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉洋;劉守杰;呂繼華;鮑妍;尚星宇
• 申請（專利權(quán)）人: 兆訊恒達(dá)微電子技術(shù)（北京）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京遠(yuǎn)大卓悅知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11369
• 代理人: 史霞

1.一種磁卡解碼芯片的自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：一PC機(jī)，一單片機(jī)，與磁卡解碼芯片的磁道個數(shù)相同的D/A轉(zhuǎn)換器，與D/A轉(zhuǎn)換器相對應(yīng)的運(yùn)算放大器電路，一芯片外圍電路；其中：

所述PC機(jī)，其連接至單片機(jī)，用于發(fā)送相關(guān)測試參數(shù)和待測信號到單片機(jī)，以進(jìn)行磁卡解碼芯片的自動化測試；所述相關(guān)測試參數(shù)包括運(yùn)放增益；所述PC機(jī)存儲多個具有不同波形的待測信號，并選擇其中一個或者多個待測信號發(fā)送給單片機(jī)；

所述單片機(jī)，其連接至所述PC機(jī)和D/A轉(zhuǎn)換器；用于接收待測信號并依據(jù)該待測信號輸出數(shù)字波形，并將數(shù)字波形輸出到所述D/A轉(zhuǎn)換器，同時根據(jù)所述運(yùn)放增益生成控制指令輸出到運(yùn)算放大器電路；

所述D/A轉(zhuǎn)換器，其連接至所述單片機(jī)和運(yùn)算放大器電路；用于將數(shù)字波形轉(zhuǎn)換成模擬波形，并將所述模擬波形輸出到所述運(yùn)算放大器電路；

所述運(yùn)算放大器電路，其連接至所述D/A轉(zhuǎn)換器和芯片外圍電路；用于根據(jù)接收到的單片機(jī)的控制指令控制所述模擬波形的增益，并將根據(jù)所述運(yùn)放增益調(diào)整后的模擬波形發(fā)送到芯片外圍電路；

所述芯片外圍電路，所述磁卡解碼芯片可拆卸地安裝在所述芯片外圍電路上，其連接至所述運(yùn)算放大器電路；用于接收所述根據(jù)所述運(yùn)放增益調(diào)整后的模擬信號，并發(fā)送給磁卡解碼芯片進(jìn)行解碼，得到解碼結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述磁卡解碼芯片的自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述芯片外圍電路還連接至所述PC機(jī)，將解碼結(jié)果反饋至所述PC機(jī)進(jìn)行存儲，所述PC機(jī)判斷解碼結(jié)果是否正確并生成測試報告。

3.如權(quán)利要求1所述磁卡解碼芯片的自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述相關(guān)測試參數(shù)還包括測試使用的D/A轉(zhuǎn)換器、運(yùn)放編號；

所述運(yùn)算放大器電路包括至少一個運(yùn)算放大器，每個運(yùn)算放大器連接至所述芯片外圍電路的一個磁道。

4.如權(quán)利要求2所述磁卡解碼芯片的自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述單片機(jī)根據(jù)運(yùn)放增益生成控制指令，是指所述單片機(jī)根據(jù)運(yùn)放增益生成包含將所述模擬波形根據(jù)所述運(yùn)放增益進(jìn)行調(diào)整的控制指令，并將所述控制指令發(fā)送給運(yùn)算放大器電路。

5.如權(quán)利要求2所述磁卡解碼芯片的自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述PC機(jī)還包括人機(jī)交互界面模塊；

所述人機(jī)交互界面模塊用于輸入啟動一次測試的控制指令，和/或用于輸入在多個待測信號中選擇其中一個或多個待測信號進(jìn)行發(fā)送的控制指令，和/或用于輸入一個新的待測信號；所述人機(jī)交互界面模塊還用于顯示所述測試報告。

6.如權(quán)利要求2所述磁卡解碼芯片的自動化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述PC機(jī)和所述單片機(jī)通過RS-232、USB和SPI接口類型中的一種或多種接口進(jìn)行通信；

所述PC機(jī)與所述芯片外圍電路通過RS-232、USB和SPI接口類型中的一種或多種接口進(jìn)行通信。

7.一種磁卡解碼芯片自動化測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟100，PC機(jī)發(fā)送一個或者多個待測信號和測試相關(guān)參數(shù)；所述測試相關(guān)參數(shù)包括運(yùn)放增益；

步驟200，單片機(jī)連接至所述PC機(jī)接收待測信號并依據(jù)該待測信號輸出數(shù)字波形，D/A轉(zhuǎn)換器連接至所述單片機(jī)的輸出端，將數(shù)字波形轉(zhuǎn)換為模擬波形；

步驟300，運(yùn)算放大器電路連接至所述D/A轉(zhuǎn)換器，根據(jù)所述運(yùn)放增益輸出調(diào)整后的模擬信號；

步驟400，芯片外圍電路接收到所述根據(jù)所述運(yùn)放增益調(diào)整后的模擬信號，并發(fā)送給安裝在其上的磁卡解碼芯片進(jìn)行解碼，并得到解碼結(jié)果。

8.如權(quán)利要求7所述磁卡解碼芯片自動化測試方法，其特征在于，所述步驟400后還包括如下步驟：

步驟500，芯片外圍電路將解碼結(jié)果反饋至所述PC機(jī)；

步驟600，所述PC機(jī)判斷是否正確解碼并依據(jù)結(jié)果生成測試報告。

9.如權(quán)利要求7所述磁卡解碼芯片自動化測試方法，其特征在于，所述測試相關(guān)參數(shù)還包括測試使用的D/A轉(zhuǎn)換器、運(yùn)算放大器編號；

所述運(yùn)算放大器電路包括至少一個運(yùn)算放大器，每個運(yùn)算放大器連接至所述芯片外圍電路的一個磁道。

10.如權(quán)利要求7所述磁卡解碼芯片自動化測試方法，其特征在于，所述步驟100中，所述PC機(jī)存儲多個具有不同波形的待測信號，并選擇其中一個或者多個待測信號發(fā)送。

11.如權(quán)利要求7所述磁卡解碼芯片自動化測試方法，其特征在于，步驟100包括如下步驟；

所述PC機(jī)首先發(fā)送給所述單片機(jī)一個測試準(zhǔn)備指令，然后將測試使用的D/A轉(zhuǎn)換器、運(yùn)算放大器編號、運(yùn)放增益和一個或者多個待測信號發(fā)送給所述單片機(jī)；所述單片機(jī)完成配置后，向所述PC機(jī)返回一個準(zhǔn)備就緒的指令；收到單片機(jī)返回的準(zhǔn)備就緒的指令后，所述PC機(jī)向所述單片機(jī)發(fā)送一個測試開始指令。