[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于靜態(tài)累積衰減比較法的正壓漏孔校準(zhǔn)裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410448577.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-09-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104236813A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-12-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 成永軍;趙瀾;馮焱;張瑞芳;習(xí)振華;楊長(zhǎng)青;董猛;管保國(guó) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 蘭州空間技術(shù)物理研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01M3/20 | 分類(lèi)號(hào): | G01M3/20 |
| 代理公司: | 北京理工大學(xué)專(zhuān)利中心 11120 | 代理人: | 仇蕾安;李?lèi)?ài)英 |
| 地址: | 730000 甘*** | 國(guó)省代碼: | 甘肅;62 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 靜態(tài) 累積 衰減 比較法 正壓 漏孔 校準(zhǔn) 裝置 方法 | ||
1.一種基于靜態(tài)累積衰減比較法的正壓漏孔校準(zhǔn)裝置,其特征在于,主要由抽氣系統(tǒng)、氦質(zhì)譜檢漏儀(20)和兩套取樣系統(tǒng)組成;其中
所述取樣系統(tǒng)包括壓力計(jì)(1、10)、集氣室(2、11)、截止閥I(4、13)、截止閥II(6、15)、截止閥III(18、19)、取樣室(5、14)及毛細(xì)管(16、17);連接關(guān)系為:壓力計(jì)(1、10)與集氣室(2、11)相連,集氣室(2、11)通過(guò)截止閥I(4、13)與取樣室(5、14)的進(jìn)氣口相連,取樣室(5、14)的出氣口依次通過(guò)截止閥II(6、15)、毛細(xì)管(16、17)及截止閥III(18、19)與氦質(zhì)譜檢漏儀(20)相連;
所述抽氣系統(tǒng)主要由抽氣泵(8)、截止閥A(7)和截止閥B(9)組成;抽氣泵(8)通過(guò)截止閥A(7)與其中一套取樣系統(tǒng)的取樣室(5)相連,抽氣泵(8)通過(guò)截止閥B(9)與另一套取樣系統(tǒng)的取樣室(14)相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于靜態(tài)累積衰減比較法的正壓漏孔校準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述集氣室(2、11)上安裝有可拆卸的法蘭。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于靜態(tài)累積衰減比較法的正壓漏孔校準(zhǔn)裝置,其特征在于,所述取樣室(5、14)的容積不大于集氣室(2、11)容積的1%。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于靜態(tài)累積衰減比較法的正壓漏孔校準(zhǔn)裝置,其特征在于,毛細(xì)管(16、17)的內(nèi)徑不大于1mm,長(zhǎng)度不小于500mm。
5.一種基于權(quán)利要求1所述正壓漏孔校準(zhǔn)裝置的校準(zhǔn)方法,在校準(zhǔn)開(kāi)始前令校準(zhǔn)裝置上的各截止閥處于關(guān)閉狀態(tài),其特征在于,具體過(guò)程為:
S01,分別打開(kāi)兩套取樣系統(tǒng)上的截止閥III(18、19),利用氦質(zhì)譜檢漏儀(20)對(duì)兩毛細(xì)管(16、17)抽氣;
S02,打開(kāi)抽氣泵(8)、截止閥A(7)和截止閥B(9),打開(kāi)兩套取樣系統(tǒng)上的截止閥I(4、13)和截止閥II(6、15),使抽氣泵(8)對(duì)兩套取樣系統(tǒng)上的取樣室(5、14)、集氣室(2、11)、毛細(xì)管(16、17)抽氣至本底;
S03,關(guān)閉兩套取樣系統(tǒng)上截止閥I(4、13)和截止閥II(6、15),關(guān)閉截止閥A(7)和截止閥B(9),分別將當(dāng)?shù)乜諝庖雰膳_(tái)集氣室(2、11)內(nèi),然后封閉兩臺(tái)集氣室(2、11);打開(kāi)兩套取樣系統(tǒng)上的截止閥I(4、13),將兩臺(tái)集氣室(2、11)中的空氣分別引入兩取樣室(5、14);直至兩壓力計(jì)(1、10)的讀數(shù)平衡后,關(guān)閉兩截止閥I(4、13);然后打開(kāi)其中一截止閥II(6或15),用氦質(zhì)譜檢漏儀(20)測(cè)量取樣室引入的氦氣的本底信號(hào)I0;
S04,分別打開(kāi)兩截止閥II(6、15)、截止閥A(7)和截止閥B(9),利用抽氣泵(8)對(duì)兩取樣室(5、14)和兩毛細(xì)管(16、17)抽氣至本底;
S05,將標(biāo)準(zhǔn)正壓漏孔(3)和被校正壓漏孔(12)分別放入兩臺(tái)集氣室(2、11)內(nèi);
S06,封閉兩臺(tái)集氣室(2、11),標(biāo)準(zhǔn)正壓漏孔(3)和被校正壓漏孔(12)流出的示漏氣體分別在集氣室(2、11)內(nèi)同時(shí)開(kāi)始累積,設(shè)定累積結(jié)束時(shí)刻t1;
S07,兩臺(tái)正壓漏孔流出的示漏氣體在兩集氣室(2、11)內(nèi)累積到結(jié)束時(shí)刻t1后,打開(kāi)兩截止閥I(4、13),將兩集氣室(2、11)中的氣體,分別引入兩取樣室(5、14),觀(guān)察至兩壓力計(jì)(1、10)的讀數(shù)平衡后,關(guān)閉兩截止閥I(4、13);
S08,關(guān)閉被校正壓漏孔(12)所處的取樣系統(tǒng)上的截止閥III(19);打開(kāi)標(biāo)準(zhǔn)正壓漏孔(3)所處的取樣系統(tǒng)上的截止閥II(6),用氦質(zhì)譜檢漏儀(20)測(cè)量取樣室(5)引入的氦氣的信號(hào)IS,再打開(kāi)截止閥A(7)對(duì)取樣室(5)及毛細(xì)管(16)抽氣至本底;
S09,關(guān)閉標(biāo)準(zhǔn)正壓漏孔(3)所處的取樣系統(tǒng)上的截止閥II(6)、截止閥III(18)和截止閥A(7);打開(kāi)被校正壓漏孔(12)所處取樣系統(tǒng)上的截止閥II(15)和截止閥III(19),用氦質(zhì)譜檢漏儀(20)測(cè)量取樣室(14)引入的氦氣的信號(hào)IL;
S10,計(jì)算被校正壓漏孔的漏率其中QS為標(biāo)準(zhǔn)正壓漏孔的漏率,利用所述漏率對(duì)被校正壓漏孔進(jìn)行校準(zhǔn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述標(biāo)準(zhǔn)正壓漏孔(3)與被校正壓漏孔(12)的漏率相同或相近,且類(lèi)型相同。
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G01M3-02 .應(yīng)用流體或真空
G01M3-38 .應(yīng)用光照
G01M3-40 .應(yīng)用電裝置,例如,觀(guān)察放電現(xiàn)象
G01M3-04 ..通過(guò)在漏泄點(diǎn)檢測(cè)流體的出現(xiàn)
G01M3-26 ..通過(guò)測(cè)量流體的增減速率,例如,用壓力響應(yīng)裝置,用流量計(jì)
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