[發明專利]一種用于檢測液晶模塊內部器件干擾的裝置及方法有效
| 申請號: | 201410448489.9 | 申請日: | 2014-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN104199202B | 公開(公告)日: | 2017-05-24 |
| 發明(設計)人: | 潘立豹;劉儒鋒;吳科東;錢林杰;趙倫保;李靜;向艷 | 申請(專利權)人: | 中航華東光電有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 蕪湖安匯知識產權代理有限公司34107 | 代理人: | 朱圣榮 |
| 地址: | 241000 安徽省蕪湖*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 檢測 液晶模塊 內部 器件 干涉 裝置 方法 | ||
1.一種用于檢測液晶模塊內部器件干擾的裝置,其特征在于:該裝置包括液晶屏、檢驗紙A(1)、檢驗紙B(5)和側蓋板(4),檢驗紙A(1)通過雙面膠粘接在液晶屏上的器件(3)上,檢驗紙B(5)為柔性紙通過雙面膠粘接在側蓋板(4)上,檢驗紙A(1)表面涂有微囊生色物質,檢驗紙B(5)表面涂有顯色物質,施壓時微囊破裂,生色物質與顯色物質相互反應,反應產生的結果現象出現在檢驗紙A上。
2.根據權利要求1所述的用于檢測液晶模塊內部器件干擾的裝置,其特征在于:所述檢驗紙A(1)和檢驗紙B(5)根據粘接的器件(3)或側蓋板(4)確定形狀。
3.根據權利要求1所述的用于檢測液晶模塊內部器件干擾的裝置,其特征在于:所述檢驗紙A(1)和檢驗紙B(5)厚度可調,最小厚度0.1mm。
4.根據權利要求1所述的用于檢測液晶模塊內部器件干擾的裝置,其特征在于:通過雙面膠將兩層檢測紙A(1)粘接一起或者兩層檢測紙B(5)粘接一起增加厚度。
5.一種用于檢測液晶模塊內部器件干擾的方法,其特征在于:其步驟包括,
步驟一、檢驗紙A(1)表面涂有微囊生色物質,檢驗紙B(5)表面涂有顯色物質,將檢驗紙A(1)按照液晶屏上的器件(3)形狀進行剪取,并使用雙面膠將檢驗紙A(1)粘接到器件(3)上;
步驟二、將檢驗紙B(5)按照側蓋板(4)內側形狀進行剪取,使用雙面膠將檢驗紙B(5)粘接到側蓋板(4)內壁上;
步驟三、液晶模塊中的其他配件裝配完畢后,將側蓋板(4)裝上;
步驟四、液晶模塊經過環境試驗后,將側蓋板(4)拆掉,施壓時微囊破裂,生色物質與顯色物質相互反應,反應產生的結果現象出現在檢驗紙A上,檢測檢驗紙A(1)顏色是否變化。
6.根據權利要求5所述的用于檢測液晶模塊內部器件干擾的方法,其特征在于:所述步驟四,如果器件(3)和側蓋板(4)有干擾,檢驗紙A(1)有顏色變化,如果器件(3)和側蓋板(4)無干擾,檢驗紙A(1)無顏色變化。
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